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| https://www.monotaro.com/p/4853/7215/ | 2026/05/09 15:32:32 |
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ケツト科学研究所
電磁式プローブ |
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| 特長： |
膜厚計L-500用新開発プローブ 電磁式プローブ(磁性金属素地用) |
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| 測定方式： | 電磁誘導式 |
| 測定精度： | 15μm未満±0.3μm/15μm以上1、000μm未満±2%/1、000μm以上±3% |
| 対応機種： | 膜厚計 L-500 |
| 測定対象： | 磁性金属上の非磁性被膜 |
| 測定範囲(μm)： | 0 〜 2、500または99.0mils |
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