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| https://www.monotaro.com/p/4853/7240/ | 2026/05/10 04:35:02 |
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ケツト科学研究所
L-500用電磁式プローブ |
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| 特長： |
膜厚計L-500用新開発プローブ 電磁式プローブ(磁性金属素地用) アプリケーションメモリを50本まで保存 L字型 |
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| 測定方式： | 電磁誘導式 |
| 測定精度： | 15μm未満±0.3μm/15μm以上1000μm未満±2%/1000μm以上±3% |
| 対応機種： | 膜厚計 L-500 |
| 測定対象： | 磁性金属上の非磁性被膜 |
| 測定範囲(μm)： | 0 〜 2500または99.0mils |
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