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SWT-NEO-N(英語版一般校正証明書付) 電磁膜厚計 プローブ付(<SWT-NEO>+<SNFE-2.0>) サンコウ電子研究所 50828708
※サンプル画像(詳細は各品番の仕様をご確認ください)
サンコウ電子研究所
電磁膜厚計 プローブ付(<SWT-NEO>+<SNFE-2.0>)
出荷目安:14日 メーカー直送品 返品不可 代引不可 個別に配送料をご負担いただく商品です。
14日出荷とは
注文コード50828708
品番SWT-NEO-N(英語版一般校正証明書付)
内容量1セット
参考基準価格(税別)オープン
単価(税別)
¥269,800
特長:測定範囲は0~2.0mmのワイドレンジ
ゼロ・標準調整ですぐに測定可能
スリムなボディによる抜群のグリップ感。
LCD画面上に操作手順をガイド表示。
4つのキーによる簡単安心操作。
USB接続でパソコンへのデータ転送が可能。
チルトスタンド機能。
メモリ、統計機能などが付いた高性能なSWT-NEO2型もございます。
用途:アルマイト、塗装、ライニングなどの膜厚測定に
注意:
※品番に(英語版校正証明書付)を含む商品はISO品質マネジメントシステムに基づく外部校正業者基準の校正ポイントにて校正を実施し書類発行後出荷致します。
付属品:標準厚板、テスト用ゼロ板、乾電池、収納ケース、ハンドストラップコード、保証書兼ユーザー登録用紙、取扱説明書
仕様:検量線メモリ:×1
質量(g):約200(電池含む)
測定範囲(mm):0~2.00
寸法H(mm):30
電源:単3アルカリ乾電池(1.5V)×2(連続使用最大約25時間/使用条件により異なる)、ACアダプタ(オプション)、オートパワーオフ機能付
使用温度(℃):0~40(結露しないこと)
寸法D(mm):156
プローブ:1点定圧接触式、Vカット付、Φ13×47mm
測定精度:(平滑面に対して垂直に測定)均一面に対して0~100μm/±1μmまたは指示値の±2%、101μm~2.00mm/±2%以内
表示方式:LCDデジタル、表示ホールド
寸法W(mm):72
表示分解能:1μm/0~999μm、切替で0.1μm/0~400μm、0.5μm/400~500μm、0.01mm/1.00~2.00mm
校正証明書:英文校正証明書付
特別運賃  この商品は個別に配送料が発生します。
地域単位配送費
全国数量1につき1,000/税込1,100
北海道地方数量1につき2,000/税込2,200
沖縄地方数量1につき2,000/税込2,200
離島数量1につき3,000/税込3,300
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