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特長：
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温度変化による形状の変化が極めて小さい材料を高精度に研磨した基板です。干渉計の原器やニュートン原器に使用することができます。
オプティカルフラットは干渉計による面精度の検査データが添付されます。サイズや各種面精度で細分化されたバリエーションの中から必要なオプティカルフラットをご選定いただけます。大型で面精度の高いオプティカルフラットでは、合成石英より熱膨張の低い材料を使用しています。側面の矢印が示している面が、高面精度の研磨面です。オプティカルフラットは保管用のケースに入った状態でご納品されます。ゼロデュア(R)はSCHOTT AG社の登録商標です。CLEARCERAM(R)は株式会社オハラの登録商標です。裏面反射の影響を防ぐことができる、ウェッジ基板(WSB/WSSQ/WSSQK)もご用意しています。ニュートンリングとはオプティカルフラットと試料を密着させた時にできる虹色の縞のことで、この縞の形や本数から、試料の面形状を推測することができます。※ニュートン原器として使用する場合は、サンプルを原器に接触させるため、サンプルに傷が付く可能性があります。※傷が付けられないものの検査はレーザ干渉計等をご使用ください。※ニュートンリングの縞の本数は干渉計による解析結果のPV値の約2倍になります。※オプティカルフラットは面精度を維持するためにコーティングされていません。※オプティカルフラットはヒビが入ったり、縁にカケが入ると面精度が悪くなることがあります。※ヒビやカケがあるものは、新しいものとお取替えください。
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