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磁気・渦電流膜厚計TIME
TIME￥69,980税込￥76,9781台10日以内出荷Fプローブを本体に内蔵した廉価モデル 一点測定モード ゼロ点校正 さまざまなアプリケーション向けの3種類の調整可能な解像度 mmとインチの間のな変換仕様最小試験面積直径：7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm寸法(mm)110×50×23測定範囲0-1250um質量(g)100電源単4型乾電池2本(別売)測定方式磁気誘導(F)最小曲げ半径(mm)凸度1.5測定誤差1um (±(3%H + 1)um)・5um (±(3%H + 1.5)um)・10um (±(3%H + 10)um) Hは試験片の厚さ動作温度範囲(℃)0-40
磁気・渦電流膜厚計TIME
TIME￥119,800税込￥131,7801台10日以内出荷Fタイプ磁気誘導(鉄)及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式 ゼロ点校正および二点校正 連続測定と単一測定 直接測定とバッチ測定 平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定基板の自動認識仕様最小試験面積直径：7mm(F)・5mm(N)、基盤の臨界厚さ：0.5mm(F)・0.3mm(N)寸法(mm)110×50×23測定範囲0-1250um(F)・0-1250um(N)・0-40um(N・銅上のクローム板)質量(g)100電源単4型乾電池2本(別売)測定方式磁気誘導(F)・渦電流(N)最小曲げ半径(mm)凸度1.5(F)・凸度3(N)分解能0.1um測定誤差±(3%H+1) um(F・ゼロ点校正)・±(3%H+1.5) um(Nゼロ点校正)・±{(1-3)%H+1}um(F・2点校正)・±{(1-3)%H+1.5}um(N・2点校正) Hは試験物の厚さ動作湿度(%)20-90強い磁場環境ではない動作温度範囲(℃)0-40
磁気・渦電流膜厚計TIME
TIME￥73,980税込￥81,3781台10日以内出荷F型プローブ統合設計 直接測定とバッチ測定モード 500件の測定データを保存 平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定値と統計値を印刷するプリントアウト(別売TA230プリンタを利用) 単位変換機能仕様最小試験面積直径：Φ7mm、基材の臨界厚さ：0.5mm寸法(mm)145×60×28測定範囲0-1250um質量(g)132電源単4型乾電池2本(別売)測定方式磁気誘導 F最小曲げ半径(mm)凸1.5・凹9分解能0.1um測定誤差±(3%H+1)um(ゼロ点校正)・±[(1%-3%)H+1]um(2点校正)使用環境温度(℃)0-40
磁気・渦電流膜厚計TIME
TIME￥73,980税込￥81,3781台10日以内出荷渦電流プローブ統合設計 直接測定とバッチ測定モード 500件の測定データを保存 平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定値と統計値を印刷するプリントアウト(別売TA230プリンタを利用)仕様最小試験面積直径：Φ7mm、基材の臨界厚さ：0.5mm寸法(mm)145×60×28測定範囲0-1250um質量(g)132電源単4型乾電池2本(別売)測定方式渦電流最小曲げ半径(mm)凸1.5・凹9分解能0.1um測定誤差±(3%H+1)um(ゼロ点校正)・±[(1%-3%)H+1]um(2点校正)使用環境温度(℃)0-40
磁気・渦電流膜厚計TIME
TIME￥119,800税込￥131,7801台10日以内出荷TIME2510に有線プローブを追加したタイプ Fタイプ磁気誘導(鉄)及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式 ゼロ点校正および二点校正 連続測定と単一測定 直接測定とバッチ測定 平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定基板の自動認識仕様最小試験面積直径：7mm(F)・5mm(N)、基盤の臨界厚さ：0.5mm(F)・0.3mm(N)寸法(mm)110×50×23測定範囲0-1250um(F)・0-1250um(N)・0-40um(N・銅上のクローム板)質量(g)100電源単4型乾電池2本(別売)測定方式磁気誘導(F)・渦電流(N)最小曲げ半径(mm)凸度1.5(F)・凸度3(N)分解能0.1um測定誤差±(3%H+1) um(F・ゼロ点校正)・±(3%H+1.5) um(Nゼロ点校正)・±{(1-3)%H+1}um(F・2点校正)・±{(1-3)%H+1.5}um(N・2点校正) Hは試験物の厚さ動作湿度(%)20-90強い磁場環境ではない動作温度範囲(℃)0-40
