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【レンタル】デュアルタイプ膜厚計(校正書付)ケツト科学研究所￥5,998～税込￥6,598～
1台
翌日出荷から3日以内出荷
鉄および非鉄金属上の各種被膜を非破壊で迅速・正確に測定します。工場内はもちろん、屋外での膜厚測定に威力を発揮します。精密機械工業をはじめ電気・自動車・船舶などの重機械工業、また、土木・建設関係にいたるまでの膜厚管理が必要なあらゆる分野で活躍します。
小さな機械部品から巨大建造物まで使う場所と対象を選びません。薄いメッキから厚手の塗装まで測定でき、しかも下地の金属は鉄でも非鉄(アルミ・銅など)でもかまいません。
鉄および非鉄金属上の被膜の両方を測ることができます。電磁測定方式と高周波測定方式の2種の回路を高密度実装しました。
小型軽量のコンパクトボディ
キャリブレーション・メモリーによって一度設定した検量線が記憶されています。測定ごとのめんどうな調整は不要です。また、高周波測定方式の場合、膜厚500mまでの被膜は素材補正をするだけで測定することができます。
対象膜厚の上限値、下限値を設定することができます。設定範囲外の膜厚を測定するとブザーで警告、マークが表示されます。
15分間、測定やキー操作をしないと電源が自動的にオフ状態になり、電池のむだな消耗を防ぎます。
測定プローブに一転接触定圧式のペンシルプローブを採用。複雑な形状の物や小さな物でも、安定した測定値が得られます。
ハンディタイプの膜厚計として第1級の精度を誇ります。また、電磁式プローブ先端の接触子はチタン・コーティングを、高周波式はサファイア・チップを採用し、耐摩耗性に優れています。
セット内容本体、本体ケース、Feプローブ、nFeプローブ、標準板、標準板ケース、鉄素地、プローブアダプター、収納ケース、単3形乾電池×4、取扱説明書質量(g)500使用温度範囲(℃)0～40電源DC6V(単3形アルカリ乾電池4本使用)適合規格ISO2178/ISO2360DIN50981/DIN50984/DIN50982ASTM B244/ASTM B499/BS5411測定方式電磁誘導式/高周波式表示LCDによるデジタル表示測定精度50μm未満/±1μm50μm以上/±3%寸法(幅W×奥行D×高さH)(mm)75×140×31分解能(μm)100μm未満/0.1100μm以上/1連続使用時間(時間)60測定対象電磁式/磁性金属上の非磁性被膜高周波式/非磁性金属上の絶縁被膜寸法(Φ×mm)(プローブ)12×72測定範囲(μm)電磁式/0～1500高周波式0～800メモリー検量線メモリー数電磁式/1本高周波式/1本最小測定面積(mm)5×5プローブ仕様一転接触定圧式電磁式/LEP-30高周波式/LHP-30
【レンタル】デュアルタイプ膜厚計(校正書付)ケツト科学研究所￥6,798～税込￥7,478～
1台
翌日出荷から3日以内出荷
セット内容本体、単3電池×4、キャリングケース、Feプローブ、NFeプローブ、標準板、標準板ケース、鉄素地、アルミ素地、プローブアダプタ、データ管理ソフト、パソコンケーブル(RS-232C)、RS-232C USB変換器、収納ケース、取扱説明書寸法(mm)75×145×31質量(kg)0.34測定範囲電磁誘導式：0～2500μmまたは99.0mils、渦電流式：0～1200μmまたは47.0mils電源電池1.5V(単3アルカリ)×4適合規格電磁誘導式：JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401、ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376・渦電流式：JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501、ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376測定方式電磁誘導式/渦電流式兼用プローブ一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J)測定精度50μm 未満：±1μm、50μm以上1000μm未満：±2%、1000μm以上：±3%表示方式デジタル(バックライト付LCD 128×64 dots、表示最小桁0.1μm)分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1外部出力パソコン(USBまたはRS-232C)、プリンタ(RS-232C)に出力可能機能アプリケーション選択、素地補正、データ削除、データメモリ、上下限設定、統計計算(測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値)、表示選択、日付・時刻、自動 off 時間、バックライト明るさ、バックライト時間、単位、データ出力、自動ロット区分、測定方法、メンテナンスモード測定対象磁性金属上の非磁性被膜、非磁性金属上の絶縁被膜電池寿命(連続時間)バックライト非点灯時：100データメモリ(点)39000消費電力(mW)80(バックライト非点灯時)メモリー数アプリケーションメモリ：電磁誘導式50本、渦電流式50本動作温度範囲(℃)0～40
プリンタ内蔵型膜厚計ケツト科学研究所￥319,800税込￥351,780
1台
6日以内出荷
プリンタ内蔵の膜厚計最上位モデル 。ブロック/グループ統計計算機能
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合：15μm未満：±0.3μm、15μm以上1、000μm：±2%、 1、000μm以上：±3%/渦電流式(HP-100)の場合：50μm未満：±1.0μm、50μm以上：±2%分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合：0～2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合：0～1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付ケツト科学研究所￥429,800～税込￥472,780～
1セット
6日以内出荷
膜厚計L-500とプローブのセット品
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合：15μm未満：±0.3μm、15μm以上1、000μm：±2%、 1、000μm以上：±3%/渦電流式(HP-100)の場合：50μm未満：±1.0μm、50μm以上：±2%分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合：0～2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合：0～1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付ケツト科学研究所￥479,800～税込￥527,780～
1セット
14日以内出荷
膜厚計L-500とプローブのセット品
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合：15μm未満：±0.3μm、15μm以上1、000μm：±2%、 1、000μm以上：±3%/渦電流式(HP-100)の場合：50μm未満：±1.0μm、50μm以上：±2%分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合：0～2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合：0～1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ校正証明書付き
デュアルタイプ膜厚計「エスカル」ケツト科学研究所￥148,800税込￥163,680
1台
24日以内出荷
廉価・小型のセンサ一体型デュアル膜厚計。自動素地判別機能搭載。測定範囲：0～2000μm。データメモリ約1000点、統計計算機能。
付属品ゼロ板ホルダ(鉄素地、アルミ素地)、標準板(50μm、100μm、1000μm いずれも近似値・各1枚)、キャリングポーチ、電池1.5V(単4アルカリ)×2、リストストラップ質量(g)約160使用温度範囲(℃)0～40電源(V)電池1.5 (単4 アルカリ)×2適合規格電磁誘導式：JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401/ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840/BS 3900-C5/ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376渦電流式：JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501/ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840/BS 3900-C5/ASTM D 7091-5、ASTM E 376測定方式電磁・渦電流式兼用(自動判別機能付き)測定精度50μm未満±1μm、50μm以上1000μm未満±2%1000μm以上2000μm未満±3%表示方式デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm)寸法(幅W×奥行D×高さH)(mm)82×99.5×32分解能(μm)100未満0.1100以上1外部出力パソコン(USB)、プリンタ(RS-232C)に出力可能機能検量線メモリ(アプリケーション・メモリ)、測定データメモリ、データ削除、データ出力、ロット区分、自動電源ON/OFF、機能、時計機能、上下限設定、統計計算、バックライト機能、単位設定、等の各種機能15 種測定対象磁性金属上の非磁性被膜、および非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲(μm)0～2000メモリーアプリケーション：電磁式・渦電流式各8種 計16本の検量線を記憶データメモリ約1000点アズワン品番64-8874-01消費電流40mW(バックライト非点灯時)
