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「jis b 2808」の検索結果

プリンタ内蔵型膜厚計
ケツト科学研究所¥319,800税込¥351,7801台6日以内出荷プリンタ内蔵の膜厚計最上位モデル 。ブロック/グループ統計計算機能電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合:15μm未満:±0.3μm、15μm以上1、000μm:±2%、 1、000μm以上:±3%/渦電流式(HP-100)の場合:50μm未満:±1.0μm、50μm以上:±2%分解能(μm)100未満:0.1、100以上:1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合:0~2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合:0~1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付
ケツト科学研究所¥429,800~税込¥472,780~1セット6日以内出荷膜厚計L-500とプローブのセット品電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合:15μm未満:±0.3μm、15μm以上1、000μm:±2%、 1、000μm以上:±3%/渦電流式(HP-100)の場合:50μm未満:±1.0μm、50μm以上:±2%分解能(μm)100未満:0.1、100以上:1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合:0~2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合:0~1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付
ケツト科学研究所¥479,800~税込¥527,780~1セット14日以内出荷膜厚計L-500とプローブのセット品電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合:15μm未満:±0.3μm、15μm以上1、000μm:±2%、 1、000μm以上:±3%/渦電流式(HP-100)の場合:50μm未満:±1.0μm、50μm以上:±2%分解能(μm)100未満:0.1、100以上:1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合:0~2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合:0~1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ校正証明書付き





