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「l2233 hioki」の検索結果
クリップ形リードHIOKI(日置電機)￥6,598税込￥7,258
1台
当日出荷から8日以内出荷
クリップの部分はガードがないので、被測定物の端子に接続し、手を離して測定します。
用途SM7110、SM7120用長さ(m)1RoHS指令(10物質対応)対応
テストリードHIOKI(日置電機)￥2,998税込￥3,298
1台
当日出荷
バリア(フィンガーガード)をスライドするだけで、ピン先の長さと測定カテゴリを簡単切り替え。
ピン先露出長：3.3 mm±0.2 mm 又は 18.0 mm±0.3 mm
測定カテゴリ：CAT III 1000 V， IV 600 V 又は CAT II 1000 V
幅広い使用温度範囲-25℃ ～ 65℃
L9207-10 テストリードの代替品として使用可能
用途DT425xシリーズ、DT428xシリーズ、CM3286シリーズ、CM4141(-50)、CM4142、CM437xシリーズアズワン品番65-0279-18ケーブル長(cm)95RoHS指令(10物質対応)対応カテゴリー【測定カテゴリⅢ、Ⅳ状態(先端ピン露出長さ3.5mm)】1000V(測定カテゴリⅢ)、600V(測定カテゴリⅣ)、【測定カテゴリⅡ状態(先端ピン露出長さ18.5mm)】1000V(測定カテゴリⅡ)
超絶縁計HIOKI(日置電機)￥619,800税込￥681,780
1台
8日以内出荷
内部に高感度電流計と低ノイズ電圧源を持った絶縁抵抗測定器です。
トライアキシャルBNCコネクタの採用により、ノイズに強く、抵抗値の高い絶縁物などの抵抗測定ができます。
測定電圧は最大1000 Vです。
用途セラミックデバイスの絶縁劣化試験
チップコンデンサのIR測定
MLCC(積層セラミックコンデンサ)の絶縁測定
太陽電池セル薄膜の絶縁測定
ノイズフィルタの絶縁(ハイレジスタンス)測定
水晶デバイスの絶縁測定
塗装(塗料)の表面抵抗率測定
筐体の帯電度合いの測定
ダイオードの微小漏れ電流測定
フォトカプラの1次側2次側絶縁(高抵抗)測定
プリンタトナー・ローラの絶縁測定
半導体メーカー向け絶縁シールの評価試験
テーピングマシン・選別機・自動機組込搭載仕様電流リミッタ：0.1～250.0 V: 5/ 10/ 50 mA、 251～1000 V: 5/ 10 mA、 1001V～： 1.8mA付属品電源コード×1、取扱説明書×1、EXTI/O用オスコネクタ×1、ショートプラグ×1質量(kg)5.9定格電圧(V)0.1～1000抵抗(Ω)1×10^3～2×10^19表示LCD表示 (30桁、 8行)、 バックライト、 高電圧警告表示寸法(幅W×高さH×奥行D)(mm)330×80×450測定時間ディレー時間: 0～9999 ms機能コンパレータ、 アベレージ、 セルフキャリブレーション、 ジグ容量オープン補正、 ケーブル長補正、 表面抵抗率測定、 体積抵抗率測定、 電圧モニタ、 コンタクトチェック、【プログラム機能】放電-充電-測定-放電の測定シーケンスを10種類プログラム可能インターフェースUSB、 RS-232C、 GP-IB電源(AC V)100～240、 50/60 Hz、 45 VA測定チャンネル数1測定電圧(V)0.1～100.0 (分解能100 mV、 確度 ±0.1% of setting ±0.05% f.s.)/100.1～1000 (分解能1 V、 確度 ±0.1% of setting ±0.05% f.s.】直流電流測定20p(分解能0.1fA)、確度±(2.0%ofrdg.+30dgt.)/200p(分解能1.0fA)、確度±(1.0%ofrdg.+30dgt.)/2n(分解能10fA)、確度±(0.5%ofrdg.+20dgt.)/20n(分解能100fA)、確度±(0.5%ofrdg.+10dgt.)/200n(分解能1pA)、確度±(0.5%ofrdg.+10dgt.)/2μ(分解能10pA)、確度±(0.5%ofrdg.+10dgt.)/20μ(分解能100pA)、確度±(0.5%ofrdg.+10dgt.)/200μ(分解能1nA)、確度±(0.5%ofrdg.+10dgt.)RoHS指令(10物質対応)対応
ピン形リードHIOKI(日置電機)￥38,980～税込￥42,878～
1台
8日以内出荷
テスト棒を手で持ったまま測定できるように、テスト棒も含めてガードが取れる構造になっています。
用途SM7110、SM7120用長さ(m)1RoHS指令(10物質対応)対応
【レンタル】超絶縁抵抗計 校正証明書付HIOKI(日置電機)￥4,398～税込￥4,838～
1個
翌々日出荷から10日以内出荷
校正証明書付となります。従来比300倍の耐ノイズ性能を実現最速6.4msの高速測定ピコアンメータでも使える低容量コンタクトチェック最高2×10^19Ω表示、最小0.1fA分解能EXTI/O，RS-232C，GP-IB，USB標準装備ハイレジスタンスメータ、エレクトロメータ、ピコアンメータ、IRメータ、自由にアレンジ可能電極と組み合わせて素材系の抵抗測定可能。
該非判定説明書はメーカーHPよりダウンロード可能です。
詳細はメーカーHPにてご確認お願いいたします。
測定チャンネル数1ch測定項目直流電流、直流電圧、温度、湿度印加電圧(V)0.1～1000.0測定方式被測定物への定電圧印加による電流測定方式入力端子【電流】トライアキシャルBNCコネクタ測定時間ディレー時間/0～9999ms機能コンパレータ、アベレージ、セルフキャリブレーション、ジグ容量オープン補正、ケーブル長補正、表面抵抗率測定、体積抵抗率測定、電圧モニタ、コンタクトチェック電源(V)AC100～240(50/60Hz)45VA寸法(幅W×奥行D×高さH)(mm)330×450×80付属品電源コード×1、取扱説明書×1、CD-R(通信コマンド取扱説明書、USBドライバ)×1、EXT I/O用オスコネクタ×1、ショートプラグ×1質量(kg)5.9
超絶縁計HIOKI(日置電機)￥939,800税込￥1,033,780
1台
14日以内出荷
内部に高感度電流計と低ノイズ電圧源を持った絶縁抵抗測定器です。
トライアキシャルBNCコネクタの採用により、ノイズに強く、抵抗値の高い絶縁物などの抵抗測定ができます。
測定電圧は最大2000 Vです。
用途セラミックデバイスの絶縁劣化試験
チップコンデンサのIR測定
MLCC(積層セラミックコンデンサ)の絶縁測定
太陽電池セル薄膜の絶縁測定
ノイズフィルタの絶縁(ハイレジスタンス)測定
水晶デバイスの絶縁測定
塗装(塗料)の表面抵抗率測定
筐体の帯電度合いの測定
ダイオードの微小漏れ電流測定
フォトカプラの1次側2次側絶縁(高抵抗)測定
プリンタトナー・ローラの絶縁測定
半導体メーカー向け絶縁シールの評価試験
テーピングマシン・選別機・自動機組込搭載仕様電流リミッタ：0.1～250.0 V: 5/ 10/ 50 mA、 251～1000 V: 5/ 10 mA、 1001V～： 1.8mA付属品電源コード×1、取扱説明書×1、EXTI/O用オスコネクタ×1、ショートプラグ×1質量(kg)5.9定格電圧(V)0.1～2000抵抗(Ω)1×10^3～2×10^19表示LCD表示 (30桁、 8行)、 バックライト、 高電圧警告表示寸法(幅W×高さH×奥行D)(mm)330×80×450測定時間ディレー時間: 0～9999 ms機能コンパレータ、 アベレージ、 セルフキャリブレーション、 ジグ容量オープン補正、 ケーブル長補正、 表面抵抗率測定、 体積抵抗率測定、 電圧モニタ、 コンタクトチェック、【プログラム機能】放電-充電-測定-放電の測定シーケンスを10種類プログラム可能インターフェースUSB、 RS-232C、 GP-IB電源(AC V)100～240、 50/60 Hz、 45 VA測定チャンネル数1測定電圧(V)0.1～100.0 (分解能100 mV、 確度 ±0.1% of setting ±0.05% f.s.)/100.1～1000 (分解能1 V、 確度 ±0.1% of setting ±0.05% f.s.】直流電流測定20p(分解能0.1fA)、確度±(2.0%ofrdg.+30dgt.)/200p(分解能1.0fA)、確度±(1.0%ofrdg.+30dgt.)/2n(分解能10fA)、確度±(0.5%ofrdg.+20dgt.)/20n(分解能100fA)、確度±(0.5%ofrdg.+10dgt.)/200n(分解能1pA)、確度±(0.5%ofrdg.+10dgt.)/2μ(分解能10pA)、確度±(0.5%ofrdg.+10dgt.)/20μ(分解能100pA)、確度±(0.5%ofrdg.+10dgt.)/200μ(分解能1nA)、確度±(0.5%ofrdg.+10dgt.)RoHS指令(10物質対応)対応
