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クリスタルベース
クリスタルベースのページです。クリスタルベースは、科学研究・開発用品/クリーンルーム用品などの商品を提供しています。現在21件の商品をご用意しており、人気商品や新着商品を豊富な品揃えの中からお選びいただけます。また、ご購入いただいたお客様の商品レビューもご確認いただけます。
高配向性黒鉛 基板 両面劈開 HOPGシリーズクリスタルベース￥29,980～税込￥32,978～
1枚
6日以内出荷から8日以内出荷
平坦な劈開面を利用してSTM (走査トンネル顕微鏡) 、AFM (原子間力顕微鏡)用の試料として使われています。メンディングテープなど押し当て引きはがすとMicaのように薄く剥離し、新鮮な表面を出すことができます。両面劈開のため、表裏どちらの面からでも劈開できます。
単結晶基板 Ge基板 ノンドープ 片面鏡面クリスタルベース￥9,598～税込￥10,558～
1枚ほか
4日以内出荷から6日以内出荷
サイズ10×10×0.5mmタイプノンドープ研磨内容片面鏡面方位(100)
単結晶基板 Si基板 P型 片面鏡面 Si-Pシリーズクリスタルベース￥11,980税込￥13,178
1箱(10枚)
当日出荷から4日以内出荷
寸法(mm)10×10×0.525タイプP型研磨内容片面鏡面
単結晶基板 Si基板 N型 片面鏡面 Si-Nシリーズクリスタルベース￥11,980税込￥13,178
1箱(10枚)
当日出荷から8日以内出荷
寸法(mm)10×10×0.525タイプN型研磨内容片面鏡面
単結晶基板 天然マイカ基板 V-4グレードクリスタルベース￥13,980～税込￥15,378～
1箱(10枚)
当日出荷から10日以内出荷
天然白雲母です。
成膜用基板やAFM観察用などに使用されています。
グレードV-4グレード研磨内容劈開
単結晶基板クリスタルベース￥51,980税込￥57,178
1箱(5枚)
6日以内出荷
汎用的な成膜用基板として使用されています。
仕様●サイズ：Φ2inch×0．43mm●方位：C(0001)●研磨：片面鏡面●方位精度：(0001)±0．5°●面内方位：[11-20] オリフラ付アズワン品番68-0982-55
単結晶基板 LSAT基板 片面鏡面 方位 100 10×10×0.5mm 1枚クリスタルベース￥38,980税込￥42,878
1枚
6日以内出荷
超電導体薄膜基板として使用されています。
寸法(mm)10×10×0.5アズワン品番66-0002-99方位-100研磨片面鏡面
単結晶基板クリスタルベース￥95,980税込￥105,578
1箱(10枚)
8日以内出荷
汎用的な成膜用基板として使用されています。
サイズΦ2inch×0.43mm精度方位：(0001)±0.5°アズワン品番3-4953-67方位C(0001)、面内：[11-20] オリフラ付研磨片面鏡面
単結晶基板 天然マイカ基板(V-1グレード)クリスタルベース￥34,980～税込￥38,478～
1箱(10枚)ほか
6日以内出荷
天然白雲母です。成膜用基板やAFM観察用などに使用されています。最高グレードです。 透明度が高く、結晶性が良好、平坦度も高いため、AFM(原子間力顕微鏡)やSPM(走査型プローブ顕微鏡)の観察試料として適しています。
単結晶基板 天然マイカ基板(V-1グレード)クリスタルベース￥129,800税込￥142,780
1箱(50枚)
6日以内出荷
天然白雲母です。成膜用基板やAFM観察用などに使用されています。最高グレードです。 透明度が高く、結晶性が良好、平坦度も高いため、AFM(原子間力顕微鏡)やSPM(走査型プローブ顕微鏡)の観察試料として適しています。
仕様●仕様：天然マイカ基板●サイズ：20×20×0.15mm●グレード：V-1グレード●研磨：劈開●入数：1箱(50枚入)アズワン品番65-8866-98
単結晶基板 天然マイカ基板(V-1グレード)クリスタルベース￥29,980税込￥32,978
1箱(10枚)
6日以内出荷
天然白雲母です。成膜用基板やAFM観察用などに使用されています。最高グレードです。 透明度が高く、結晶性が良好、平坦度も高いため、AFM(原子間力顕微鏡)やSPM(走査型プローブ顕微鏡)の観察試料として適しています。
仕様●仕様：天然マイカ基板●サイズ：15×15×0.15mm●グレード：V-1グレード●研磨：劈開●入数：1箱(10枚入)アズワン品番65-8866-95
単結晶基板 天然マイカ基板(V-1グレード)クリスタルベース￥34,980～税込￥38,478～
1箱(10枚)
6日以内出荷
天然白雲母です。成膜用基板やAFM観察用などに使用されています。最高グレードです。 透明度が高く、結晶性が良好、平坦度も高いため、AFM(原子間力顕微鏡)やSPM(走査型プローブ顕微鏡)の観察試料として適しています。
