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膜厚計 ケツト科学研究所膜厚計ケツト科学研究所(1件のレビュー)
139,800税込153,780
1台ほか
当日出荷から14日以内出荷
必要最小限の操作キーを備えたシンプルな小型膜厚計です。 デュアルタイプの膜厚計。素地が鉄でも非鉄でも測定できます。 素地自動判別。自動で素地を判別し、その測定モードになります。 アプリケーションメモリ(検量線メモリ)機能搭載。電磁式・渦電流式各8種、16本までの調整済みのアプリケーション(検電線)を記憶します。 データ出力端子を装備。測定データをパソコンやプリンタに出力可能。 多彩な機能を装備。
測定範囲0~2000μmまたは0~80.0mils仕様アプリケーションメモリ/電磁式・渦電流式各8種、計16本の検量線を記憶付属品ゼロ板ホルダ(鉄素地、アルミ素地)、標準板(50、100、1000μm)、キャリングポーチ、電池1.5V(単4アルカリ)×2本、リストストラップ質量(g)約160電源(V)電池1.5(単4アルカリ)×2本測定方式電磁・渦電流式兼用(自動判別機能付)表示方式デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm)寸法(幅W×奥行D×高さH)(mm)82×99.5×32外部出力パソコン(USB)、プリンタ(RS-232C)に出力可能測定対象磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜電池寿命(時間)60(バックライト非点灯時、連続使用)データメモリ(点)約1000消費電力(mW)40(バックライト非点灯時)動作周囲温度(℃)0~40
【レンタル】デュアルタイプ膜厚計(校正書付) ケツト科学研究所【レンタル】デュアルタイプ膜厚計(校正書付)ケツト科学研究所
5,598税込6,158
1台
翌日出荷から3日以内出荷
小型ボディに多機能を凝縮 デュアルタイプ膜厚計 LZ-370は、磁性体上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です。多様な素材、多様な被膜を扱う現場用として最適な膜厚計です。
セット内容本体、キャリングケース、Feプローブ、NFeプローブ、標準板、標準板ケース、鉄素地、アルミ素地、プローブアダプタ、データ管理ソフト(CD-R)、パソコンケーブル(RS-232C)、RS-232C USB変換器、収納ケース寸法(mm)75(W)×145(D)×31(H)質量(kg)0.34測定範囲電磁誘導式:0~2500μmまたは99.0mils、渦電流式:0~1200μmまたは47.0mils電源単3アルカリ乾電池4本測定方式電磁誘導式/渦電流式兼用測定精度50μm未満:±1μm、50μm以上1000μm未満:±2%、1000μm 以上:±3%分解能100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm測定対象磁性金属上の非磁性被膜、非磁性金属上の絶縁被膜動作温度範囲(℃)0~40℃
【レンタル】デュアルタイプ膜厚計(校正書付) ケツト科学研究所【レンタル】デュアルタイプ膜厚計(校正書付)ケツト科学研究所
5,998税込6,598
1台
翌日出荷から3日以内出荷
セット内容本体、単3電池×4、キャリングケース、Feプローブ、NFeプローブ、標準板、標準板ケース、鉄素地、アルミ素地、プローブアダプタ、データ管理ソフト、パソコンケーブル(RS-232C)、RS-232C USB変換器、収納ケース、取扱説明書寸法(mm)75×145×31質量(kg)0.34測定範囲電磁誘導式:0~2500μmまたは99.0mils、渦電流式:0~1200μmまたは47.0mils電源電池1.5V(単3アルカリ)×4適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401、ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376・渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501、ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376測定方式電磁誘導式/渦電流式兼用プローブ一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J)測定精度50μm 未満:±1μm、50μm以上1000μm未満:±2%、1000μm以上:±3%表示方式デジタル(バックライト付LCD 128×64 dots、表示最小桁0.1μm)分解能(μm)100未満:0.1、100以上:1外部出力パソコン(USBまたはRS-232C)、プリンタ(RS-232C)に出力可能機能アプリケーション選択、素地補正、データ削除、データメモリ、上下限設定、統計計算(測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値)、表示選択、日付・時刻、自動 off 時間、バックライト明るさ、バックライト時間、単位、データ出力、自動ロット区分、測定方法、メンテナンスモード測定対象磁性金属上の非磁性被膜、非磁性金属上の絶縁被膜電池寿命(連続時間)バックライト非点灯時:100データメモリ(点)39000消費電力(mW)80(バックライト非点灯時)メモリー数アプリケーションメモリ:電磁誘導式50本、渦電流式50本動作温度範囲(℃)0~40
ウレタン防水層膜厚計 ケツト科学研究所ウレタン防水層膜厚計ケツト科学研究所
289,800税込318,780
1個
12日以内出荷
ウレタン防水層(非磁性金属シート敷設のもの)の厚さ測定用の渦電流膜厚計 厚膜測定用モデル(0~12mm) 専用渦電流式プローブ付属 ウレタン防水層から剥離しやすい圧力分散板付属
仕様●測定方式:渦電流式●プローブ:ウレタン防水層膜厚計用プローブ●測定対象:非磁性金属上の絶縁被膜●測定範囲:0~12mm●測定精度:1mm未満/±0.03mm、1mm以上/±3%●分解能:10mm未満/0.01mm、10mm以上/0.1mm●データメモリ数:約8,000点●アプリケーションメモリ:100本●表示方法:デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.01mm)●外部出力:PC(USBまたはRS-232C)●電源:電池1.5V(単3アルカリ)×4●消費電力:130mW(バックライト非点灯時)●電池寿命:100時間(バックライト非点灯時、連続使用)●使用温度範囲:0~40℃●付加機能:各種機能16種●寸法・質量:本体:75(W)×145(D)×31(H)mm、0.34Kg●プローブ:Φ42 ×103 mm、0.17kg●付属品:アルミ素地、圧力分散板、標準板(5枚セット)、電池1.5V(単3アルカリ)×4、ソフトケース、取扱説明書●オプション:標準板(付属品以外の厚さ)、パソコンケーブル、RS-232C-USBケーブル、データ管理ソフト:データロガー LDL-03アズワン品番67-8735-81
米麦単粒水分計 ケツト科学研究所米麦単粒水分計ケツト科学研究所
459,800税込505,780
1個
15日以内出荷から16日以内出荷
PQ-520は、試料を一粒ずつ高速に、しかも連続的に測定する水分計です。このような測定方式をとることで多量の試料の水分分布を正確に知ることができ、乾燥調整の不足などによる水分ムラを防ぐことができます。
デュアルタイプ膜厚計「エスカル」 ケツト科学研究所デュアルタイプ膜厚計「エスカル」ケツト科学研究所
148,800税込163,680
1台
欠品中
廉価・小型のセンサ一体型デュアル膜厚計。自動素地判別機能搭載。測定範囲:0~2000μm。データメモリ約1000点、統計計算機能。
付属品ゼロ板ホルダ(鉄素地、アルミ素地)、標準板(50μm、100μm、1000μm いずれも近似値・各1枚)、キャリングポーチ、電池1.5V(単4アルカリ)×2、リストストラップ質量(g)約160使用温度範囲(℃)0~40電源(V)電池1.5 (単4 アルカリ)×2適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401/ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840/BS 3900-C5/ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501/ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840/BS 3900-C5/ASTM D 7091-5、ASTM E 376測定方式電磁・渦電流式兼用(自動判別機能付き)測定精度50μm未満±1μm、50μm以上1000μm未満±2%1000μm以上2000μm未満±3%表示方式デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm)寸法(幅W×奥行D×高さH)(mm)82×99.5×32分解能(μm)100未満0.1100以上1外部出力パソコン(USB)、プリンタ(RS-232C)に出力可能機能検量線メモリ(アプリケーション・メモリ)、測定データメモリ、データ削除、データ出力、ロット区分、自動電源ON/OFF、機能、時計機能、上下限設定、統計計算、バックライト機能、単位設定、等の各種機能15 種測定対象磁性金属上の非磁性被膜、および非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲(μm)0~2000メモリーアプリケーション:電磁式・渦電流式各8種 計16本の検量線を記憶データメモリ約1000点アズワン品番64-8874-01消費電流40mW(バックライト非点灯時)
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