最大測定長25mm以上の外側マイクロメータの基点調整用に使用します。既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。
平面度(μm)0.3
シリーズ167
参考寸法差幅(μm)2
最大測定長25mm以上の外側マイクロメータの基点調整用に使用します。既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。
呼び寸法L(mm)75
許容差(μm)呼び寸法に対する寸法:±2.5
寸法l(mm)40
直径(Φmm)6.35
参考寸法差幅(μm)2
シリーズ167
平面度(μm)0.3
寸法許容差(μm)±2.5(呼び寸法に対する)
マイクロメータの測定面の平面度と平行度の検査に使用します。スピンドルの回転角にもとづずき厚みの異なる4枚1組みとなっています。
厚さ(mm)12.00/12.12/12.25/12.37
仕様25mm用
シリーズ157
外径(Φmm)30
平面度(μm)0.1
平行度(μm)0.2
RoHS指令(10物質対応)対応
『マイクロメーター』には他にこんなカテゴリがあります
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