FIB試料調整用試料台 Fine Grid SGシリーズ
TEMでの観察・分析用に、FIB加工機で試料を薄片化する際に使用される試料台です。
薄くなっている試料固定部が3ヵ所あります。
高純度素材を使用しています。
試料固定部認識用ピンホール・表裏認識用円形パターンがあります。
直径(mm)(ベース部)約3
注意
※寸法は保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。地域運賃
| 地域 | 単位 | 配送費 |
|---|---|---|
| 離島 | 数量1以上のご注文(同一注文コードにつき) | ¥20,000/税込¥22,000 |
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