研究用高純度シリコンウェハー 1枚入
- 長さ(mm)
- (OF)47.5±2.5
- 抵抗値
- 0.1～100Ω・cm
- 製造方法
- CZ法
- 位置
- (OF)110
- 方位
- (面)100
- ウェハー厚(μm)
- 625±25
- 内容量
- 1枚
注意
※本製品は半導体向けの結晶材を使用し製造加工しておりますが、材料純度に関する証明等に対応できるものではありません。特別運賃
| 地域 | 単位 | 配送費 |
|---|---|---|
| 全国 | 数量1につき | ¥0/税込¥0 |
| 北海道地方 | 数量1につき | ¥0/税込¥0 |
| 沖縄地方 | 数量1につき | ¥0/税込¥0 |
| 離島 | 数量1以上のご注文(同一注文コードにつき) | ¥20,000/税込¥22,000 |
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