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ケツト科学研究所

渦電流プローブ

渦電流プローブ - ケツト科学研究所

膜厚計L-500用新開発プローブ
渦電流式プローブ(非磁性金属素地用)
アプリケーションメモリを50本まで保存

測定方式渦電流式測定精度50未満±1.0μm/50以上±2%対応機種膜厚計 L-500測定対象非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲(μm)0 ～ 1200または47.0mils内容量1本

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