渦電流プローブ
膜厚計L-500用新開発プローブ
渦電流式プローブ(非磁性金属素地用)
アプリケーションメモリを50本まで保存
測定方式渦電流式
測定精度50未満±1.0μm/50以上±2%
対応機種膜厚計 L-500
測定対象非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲(μm)0 ～ 1200または47.0mils
内容量1本
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