FIB試料調整用試料台 Fine Grid SGシリーズ

TEMでの観察・分析用に、FIB加工機で試料を薄片化する際に使用される試料台です。
薄くなっている試料固定部が3ヵ所あります。
高純度素材を使用しています。
試料固定部認識用ピンホール・表裏認識用円形パターンがあります。