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最大サンプリングレートは625 MSa/s。最高周波数は50 MHz。垂直分解能16ビット。任意波形編集機能、最大任意波形の長さは2 Mpts/CH(オプションで8 Mpts/CHも可能)。内蔵最大20次高調波発生器。独立した信号周波数測定チャンネルがあり、最大測定周波数は500 MHz。USBおよびLANインターフェースを備え、リモート接続が可能。Type-C電源インターフェースを備え、モバイル電源供給に対応しており、現場でのテストに対応。標準でWeb Controlウェブ制御機能を搭載しており、リモート協力がより便利に行えます

最大サンプリングレートは1.25 GSa/s。最大出力周波数は200 MHz。垂直分解能16ビット。任意波形編集機能、最大任意波形の長さは16 Mpts/CH(オプションで32 Mpts/CHも可能)。内蔵最大20次高調波発生器。独立した信号周波数測定チャンネルがあり、最大測定周波数は1 GHz。USBおよびLANインターフェースを備え、リモート接続が可能。Type-C電源インターフェースを備え、モバイル電源供給に対応しており、現場でのテストに対応。標準でWeb Controlウェブ制御機能を搭載しており、リモート協力がより便利に行えます

信号に変調をかけ、周波数スイープやバースト信号を出力することも可能です。

信号に変調をかけ、周波数スイープやバースト信号を出力することも可能です。

高周波信号まで観測できるものが一般的であり、主に波形の分析、高速現象の観測、過渡現象の観測など、電気計測の分野で多く用いられています。

高周波信号まで観測できるものが一般的であり、主に波形の分析、高速現象の観測、過渡現象の観測など、電気計測の分野で多く用いられています。

周波数帯域:200MHz，400MHz，800MHz 4 アナログ・チャンネル 最高サンプリングレート:4GSa/s 垂直分解能:12bit 最小フロアノイズ:18μVrms 垂直軸レンジ:100μV/Div～10V/Div(1MΩ) 最大レコード長:500Mポイント(オプション) 波形更新レート:最高1500000回/秒 10.1インチ 1280×800 HDタッチディスプレイ シリアルデコード標準装備(I2C，SPI，UART，CAN) シリアルデコード(オプション)(LIN，CAN-FD，FlexRay，I2S，MIL-STD-1553) インターフェイス:USB，LAN，HDMI

周波数帯域：50MHz， 70MHz， 100MHz， 200MHz 4 または 2アナログ・チャンネル 16 デジタル・チャンネル(Plusモデルとオプションのデジタル・プローブ) 最高サンプルレート： 1GSa/s 垂直軸レンジ： 1mV/div ～ 10V/div 水平軸12div 自動測定結果を履歴としてグラフまたは表形式で表示 シリアル・バス・トリガ&デコード 2チャンネル 25MHz信号発生器内蔵(-Sモデル) インタフェース： USBホスト&デバイス， LAN，AUX(トリガ出力/フェイル信号出力) 7インチWVGA(800x480)ディスプレイ

周波数帯域:70MHz，100MHz，200MHz 4または2 アナログ・チャンネル 最高サンプリングレート:1GSa/s 垂直分解能:12bit 垂直軸レンジ:500µV/Div～10V/Div 最大レコード長:100Mポイント(オプション) 波形更新レート:最高1，500，000回/秒 10.1インチ 1280×800 HDタッチディスプレイ 5種類のシリアルデコード機能 インターフェイス:USB、LAN、HDMI

周波数帯域 ： 600MHz， 1GHz， 2GHz (50Ω 入力) 4アナログ・チャンネル、16デジタル・チャンネル(デジタル・プローブはオプション) 垂直軸レンジ ： 1mV/div ～ 10V/div (1MΩ) 最高サンプル・レート ： アナログ・チャンネル 10Gsa/s デジタル・チャンネル 1.25Gsa/s 最大レコード長：500Mポイント 多様なシリアル・プロトコル・トリガとデコード(オプション) リアルタイム・アイ・ダイアグラム&ジッタ解析 (オプション) 41種の波形パラメータ自動測定；フルメモリ・ハードウェア測定 豊富な演算、FFT解析、ピーク・サーチ 波形ヒストグラム解析 2チャンネル 25MHz 信号発生器内蔵(オプション) インタフェース ： USBホスト&デバイス， LAN(LXI)， HDMI， TRIG OUT Webでリモート・コントロール 10.1インチ 1024x600 静電容量式マルチタッ・チディスプレイ 256レベル輝度諧調表示、カラー・グレード

高周波信号まで観測できるものが一般的であり、主に波形の分析、高速現象の観測、過渡現象の観測など、電気計測の分野で多く用いられています。