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商品本体に、校正機関にて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。測定面は超硬合金チップ付(BMD-15は、スピンドル測定面のみ超硬合金チップ付)BMD-MXは、保護等級IP65の防水形両球面デジマチックマイクロメータです。デジマチック(LCD)【注意事項】ご注文には書類宛名(会社名・所在地)が必要となります。

商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。

商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。

商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。外筒目盛を読み易くするために、読取り位置をラチェット側にし、迅速な鋼板厚さ測定ができます。

商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。軽く、手のひらに入るコンパクトな測定器です。小物、薄物、細物をワンタッチで迅速に測定することができます。電磁誘導式アブソリュートエンコーダを採用しています。絶対原点を持つABS(絶対)スケール内蔵のため、電源ONごとのゼロセットは不要です。また、決してオーバースピードエラーが発生しないので、信頼性も向上しています。絶対スケールの採用により連続18000時間の電池寿命を達成しています。液晶表示は、読取りやすい「デカ文字」タイプでハイコントラスト液晶表示で疲労を軽減できます。

商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。

商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。外側マイクロメータの基点調整に使用します。

商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。外側マイクロメータの基点調整に使用します。

商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。ねじマイクロメータの基点調整に使用します。

商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。瞬間の実態がとらえにくい張力をメカ的に測定できます。ダイヤルゲージの測定力、リレー、マイクロスイッチ、バルブなどの接触力、あるいは精密ばね類のばね圧測定に広く利用されています。アーム支点にはミニチュアベアリングを使用していますので、安定した測定値が得られます。標準形と置針形の2種類があります。

商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。ダイヤルゲージなどを取り付けて測定をするために便利なスタンドです。上下の微動に平行バネを使用していますので、ワンタッチ操作で微動できます。

商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。三針ユニットは、マイクロメータのスピンドル・アンビルの両測定面に取付けてねじの有効径を測定します。

商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。

商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。ねじマイクロメータの基点調整に使用します。

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商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。ねじマイクロメータの基点調整に使用します。

商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。スライダは微動送りができます。段差測定も可能です。

商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。マイクロメータ検査用の専用セットです。BM1-10M、BM3-10Mは、JIS B 7502-1994 マイクロメータ「器差の測定方法」に推奨されている組み合わせです。大形マイクロメータの器差の検査にはBM1-8M、BM3-8Mを併用すると便利です。BM1-10MK、BM3-10MKは、シンブル1回転でスピンドルが2.0mm移動するカンタマイク検査用の専用セットです。

商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。マイクロメータ検査用の専用セットです。BM1-10M、BM3-10Mは、JIS B 7502-1994 マイクロメータ「器差の測定方法」に推奨されている組み合わせです。大形マイクロメータの器差の検査にはBM1-8M、BM3-8Mを併用すると便利です。BM1-10MK、BM3-10MKは、シンブル1回転でスピンドルが2.0mm移動するカンタマイク検査用の専用セットです。

商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。指かけ部が自動クランプになっています。段差測定も可能です。

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