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商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。瞬間の実態がとらえにくい張力をメカ的に測定できます。ダイヤルゲージの測定力、リレー、マイクロスイッチ、バルブなどの接触力、あるいは精密ばね類のばね圧測定に広く利用されています。アーム支点にはミニチュアベアリングを使用していますので、安定した測定値が得られます。標準形と置針形の2種類があります。
仕様目量：0.1N●測定範囲：0.3～3N●精度：±0.5目盛●形状：標準品●付属品：収納ケース
アズワン品番64-3760-77
校正証明書一般校正
1個
￥16,980
税込￥18,678
36日以内出荷
安心!手軽!測定機器の高額商品が日数単位でご利用いただけます。出荷前の商品はすべて検査済みです。タッチパネルで簡単操作の触針式表面粗さ測定器です。検出器は、新JIS規格の測定力0.75mNです。粗さパラメーターや統計処理機能も充実しています。プリンター内蔵。
用途金属表面測定に。
セット内容本体、駆動検出部、タッチペン、ACアダプター、予備記録紙、接続ケーブル、検出器、支持足平面用ノーズピース、円筒用ノーズピース、粗さ標準片、マイナスドライバー、六角レンチ、簡易通信プログラム、RS-232Cケーブル、収納ケース、取扱説明書
材質ダイヤモンド(触針先端)
質量(kg)演算指示部/1.2駆動部/0.2
測定範囲X軸/12.5mmZ軸/350μm(-200～+150μm)
タイプSJ-301 0.75mNタイプ
規格Jis'82、Jis'94、Jis'01、DIN、ISO、ANSI対応
電源バッテリー(Ni-H充電電池)、ACアダプターのⅡ電源方式
検出方式差動インダクタンス
倍率【記憶】縦倍率/×10、×20、×50、×100、×200、×500、×1K、×2K、×5K、×10K、×20K、×50K、×100k、AUTO横倍率/×1、×2、×5、×10、×20、×50、×100、×200、×500、×1K、AUTO
測定力(N)0.75m
寸法(幅W×奥行D×高さH)(mm)演算指示部/307×165×94駆動部/115×23×26
フィルター2CR/PC75/Gaussian
外部出力SPC出力
機能【合否判定】上限・下限値の設定/3パラメータ合否判定ルール/平均値、16%ルール、最大値ルール【測定条件の保存】最大5件【データの保存】メモリーカード(オプション)に、測定条件(最大20件)、評価データ、サンプリングデータ、統計データの保存/呼出【省電力機能】オートパワーオフON時/5分間無操作【測定可能回数】約600回(使用条件、環境等により多少異なる)
プリンターサーマルプリンター内蔵
液晶サイズ100×70mm(ダッチパネル式)
コード178-952-3
校正数値入力による自動校正方式
統計機能1パラメータについて最大値、最小値、平均値、標準偏差、合格率、度数分布表
充電時間(時間)最大15
外部入力RS-232CI/F
カスタマイズ表示、演算させたいパラメータを選択
曲率半径2μm(先端)
商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。マイクロメータ検査用の専用セットです。BM1-10M、BM3-10Mは、JIS B 7502-1994 マイクロメータ「器差の測定方法」に推奨されている組み合わせです。大形マイクロメータの器差の検査にはBM1-8M、BM3-8Mを併用すると便利です。
校正証明書JCSS校正
商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。マイクロメータ検査用の専用セットです。BM1-10M、BM3-10Mは、JIS B 7502-1994 マイクロメータ「器差の測定方法」に推奨されている組み合わせです。大形マイクロメータの器差の検査にはBM1-8M、BM3-8Mを併用すると便利です。BM1-10MK、BM3-10MKは、シンブル1回転でスピンドルが2.0mm移動するカンタマイク検査用の専用セットです。
校正証明書JCSS校正
商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。マイクロメータ検査用の専用セットです。BM1-10M、BM3-10Mは、JIS B 7502-1994 マイクロメータ「器差の測定方法」に推奨されている組み合わせです。大形マイクロメータの器差の検査にはBM1-8M、BM3-8Mを併用すると便利です。BM1-10MK、BM3-10MKは、シンブル1回転でスピンドルが2.0mm移動するカンタマイク検査用の専用セットです。
校正証明書JCSS校正
商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。マイクロメータ検査用の専用セットです。BM1-10M、BM3-10Mは、JIS B 7502-1994 マイクロメータ「器差の測定方法」に推奨されている組み合わせです。大形マイクロメータの器差の検査にはBM1-8M、BM3-8Mを併用すると便利です。BM1-10MK、BM3-10MKは、シンブル1回転でスピンドルが2.14mm移動するカンタマイク検査用の専用セットです。
校正証明書JCSS校正
最も一般的に使われているノギスです。本尺とスライダの間にゴミが入らない目盛面段付です。バーニヤ目盛面の傾斜がゆるく(14°)、読み取りやすくなっています。本尺とスライダの頭部端面を、0基点(測定面)としていますので、段差測定ができます。標準ノギスでは、外側、内側、深さ測定のほかに段差測定と4種の測定ができます。超硬合金チップ付は荒加工品、鋳物、砥石などの測定に最適です。
最小読取値(mm)0.05
デプスバー(有・無)あり
校正証明書一般校正(英語)
最も一般的に使われているノギスです。本尺とスライダの間にゴミが入らない目盛面段付です。バーニヤ目盛面の傾斜がゆるく(14°)、読み取りやすくなっています。本尺とスライダの頭部端面を、0基点(測定面)としていますので、段差測定ができます。標準ノギスでは、外側、内側、深さ測定のほかに段差測定と4種の測定ができます。超硬合金チップ付は荒加工品、鋳物、砥石などの測定に最適です。
最小読取値(mm)0.05
デプスバー(有・無)あり
校正証明書一般校正(中国語)
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