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計測スタンド用サンプル固定バイス。

縦型計測スタンドに取り付けることで、サンプルの固定が可能な両開きタイプのバイスです。 両開きのため、サンプルの大小に関わらず中央で固定できます。 本体ステンレス製で、磁性がある測定にもご対応いただけます。 口金の付け替えが可能で、幅広い測定にご利用いただけます。

縦型計測スタンドに取り付けることで、サンプルの固定が可能な両開きタイプのバイスです。両開きのため、サンプルの大小に関わらず中央で固定できます。本体ステンレス製で、磁性がある測定にもご対応いただけます。口金の付け替えが可能で、幅広い測定にご利用いただけます。

縦型計測スタンドに取り付けることで、サンプルの固定が可能な片開きタイプのバイスです。取り付け穴が長穴で、計測軸のセンター出しが可能です。レバータイプでサンプルを強固に固定できます。サンプルや測定条件に合わせて4種類から選択できます。

取付間隔が異なる複数のアタッチメントの固定に最適なテーブルです。T ナットが左右に移動するため、バイスやアタッチメントなどの取り付けの際、センター合わせが簡単に行えます。テーブル左右からアタッチメントを取り付けたTナットを差し込むことが可能です。複数のアタッチメントを交換して使用される場合に便利です。

フィルムなど薄いサンプルの突刺し強度試験に最適です。サンプルを固定するテーブルとサンプルを突刺すピンがセットになっており、簡単に突刺し強度試験が行えます。測定条件に合わせて標準タイプと低荷重用安価タイプから選択できます。JIS規格に一部準拠した測定が可能です。サンプルや測定条件に合わせて、寸法や材質、耐荷重の変更などの特注対応もが可能です。