「表面抵抗値 測定器」の検索結果
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耐久性に優れ、静電気拡散性を有するニトリル製ゴム手袋です。合成ゴムを使用しておりコンタミネーションが少ない手袋です。
仕様【残留パーティクル、液中(0.5-20μm)】＜1200、【残留物質、シリコン】検出なし、アミド：検出なし、フタル酸エステル類：検出なし、【残留イオン(μg/cm2)、F-】＜0.002、Cl-：＜0.2、Br-：＜0.005、NO3-：＜0.25、PO43-(リン酸イオン)：＜0.01、SO42-(硫酸イオン)：＜0.05、Li+：＜0.002、Na+：＜0.03、NH4+：＜0.01、K+：＜0.01、Mg2+：＜0.01、Ca2+：＜0.15、【検査場所】和歌山CIC、【測定方法】JIS B9923タンブリング法、【サンプル】1-4773-53、【測定データ】ランダムに選出した検体10双のトータル値(3回平均)
厚さ(mm)約0.14(手の平)
機能耐久性
表面抵抗率(Ω)10^11/□≦
耐久性に優れ、静電気拡散性を有するニトリル製ゴム手袋です。合成ゴムを使用しておりコンタミネーションが少ない手袋です。
仕様【検査場所】和歌山CIC、【測定法】JIS B9923タンブリング法、【測定データ】ランダムに選出検体10双のトータル値(3回平均)、【パーティクルサイズ(μm)/ハイグリップタイプ(指エンボス)】0.3～0.5未満/12、0.5～1.0未満/3、1.0～2.0未満/1、2.0～5.0未満/0、5.0以上：0※測定値です。保障値ではありません。、【残留パーティクル、液中(0.5-20μm)】＜1200、【残留物質、シリコン】検出なし、アミド：検出なし、フタル酸エステル類：検出なし、【残留イオン(μg/cm2)、F-】＜0.002、Cl-：＜0.2、Br-：＜0.005、NO3-：＜0.25、PO43-(リン酸イオン)：＜0.01、SO42-(硫酸イオン)：＜0.05、Li+：＜0.002、Na+：＜0.03、NH4+：＜0.01、K+：＜0.01、Mg2+：＜0.01、Ca2+：＜0.15
厚さ(mm)約0.14(手の平)
機能耐久性
耐久性に優れ、静電気拡散性を有するニトリル製ゴム手袋です。合成ゴムを使用しておりコンタミネーションが少ない手袋です。
機能耐久性
入数(枚)1000
材質NBR(ニトリルゴム)
全長(mm)約300(12インチ)
表面抵抗率(Ω)10^11/□≦
厚さ(mm)約0.14(手の平)
色ホワイト
仕様【残留パーティクル、液中(0.5-20μm)】＜1200、【残留物質、シリコン】検出なし、アミド：検出なし、フタル酸エステル類：検出なし、【残留イオン(μg/cm2)、F-】＜0.002、Cl-：＜0.2、Br-：＜0.005、NO3-：＜0.25、PO43-(リン酸イオン)：＜0.01、SO42-(硫酸イオン)：＜0.05、Li+：＜0.002、Na+：＜0.03、NH4+：＜0.01、K+：＜0.01、Mg2+：＜0.01、Ca2+：＜0.15、【検査場所】和歌山CIC、【測定方法】JIS B9923タンブリング法、【サンプル】1-4773-53、【測定データ】ランダムに選出した検体10双のトータル値(3回平均)
コストパフォーマンスに優れたパウダーフリー手袋。静電気対策で使用できるニトリル手袋です。
全長(cm)約30.0(12インチ)
材質NBR(ニトリルゴム)
色ホワイト
厚さ(mm)約0.10(手の平)
規格ピンホール検査：AQL1.5
機能静電気対策(表面抵抗率：1×10^10Ω/□≦)、2重包装
粉有無粉無
エンボス加工指先エンボス
入数(枚)1000
仕様【ピンホール検査】AQL1.5、【検査場所】和歌山CIC、【測定方法】JIS B9923タンブリング法、【測定データ】ランダムに選出した検体10双のトータル値(3回平均)、【パーティクルサイズ(μm)】0.3～0.5未満/205、0.5～1.0未満/113、1.0～2.0未満/59、2.0～5.0未満/15、5.0以上/25※測定地です(保証値ではありません。)
表面抵抗率(Ω)1×10^10/□≦
アズワン品番1-2252-53
1箱(100枚×10袋)
￥26,235
税込￥28,859
翌々日出荷
耐久性耐制電性に優れ、静電気拡散性を有するニトリル製ゴム手袋です。合成ゴムを使用しておりコンタミネーションが少ない手袋です。
全長(cm)約30.0(12インチ)
材質NBR(ニトリルゴム)
色ホワイト
厚さ(mm)約0.14(手の平)
規格クラス100対応
機能耐久性、耐制電性(表面抵抗率：10^11Ω/□≦)、ピュアパック(純水洗浄、残留イオン・パーティクル管理商品)、ダブルクロリネーション、クリーンルーム用2重包装
粉有無粉無
入数(枚)1000
仕様【残留パーティクル、液中(0.5-20μm)】＜1200、【残留物質、シリコン】検出なし、アミド：検出なし、フタル酸エステル類：検出なし、【残留イオン(μg/cm2)、F-】＜0.002、Cl-：＜0.2、Br-：＜0.005、NO3-：＜0.25、PO43-(リン酸イオン)：＜0.01、SO42-(硫酸イオン)：＜0.05、Li+：＜0.002、Na+：＜0.03、NH4+：＜0.01、K+：＜0.01、Mg2+：＜0.01、Ca2+：＜0.15、【検査場所】和歌山CIC、【測定方法】JIS B9923タンブリング法、【サンプル】1-4773-53、【測定データ】ランダムに選出した検体10双のトータル値(3回平均)
タイプハイグリップ(全面エンボス)
表面抵抗率(Ω)10^11/□≦
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