「膜厚計標準板」の検索結果

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TIME2510に有線プローブを追加したタイプ Fタイプ磁気誘導(鉄)及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式ゼロ点校正および二点校正連続測定と単一測定直接測定とバッチ測定平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定基板の自動認識

仕様最小試験面積直径：7mm(F)・5mm(N)、基盤の臨界厚さ：0.5mm(F)・0.3mm(N) 寸法(mm)110×50×23 測定範囲0-1250um(F)・0-1250um(N)・0-40um(N・銅上のクローム板) 質量(g)100 電源単4型乾電池2本(別売) 測定方式磁気誘導(F)・渦電流(N) 最小曲げ半径(mm)凸度1.5(F)・凸度3(N) 分解能0.1um 測定誤差±(3%H+1) um(F・ゼロ点校正)・±(3%H+1.5) um(Nゼロ点校正)・±{(1-3)%H+1}um(F・2点校正)・±{(1-3)%H+1.5}um(N・2点校正) Hは試験物の厚さ動作湿度(%)20-90強い磁場環境ではない動作温度範囲(℃)0-40

1台

￥119,800 税込￥131,780

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

6種類のプローブに対応コンパクトな設計ながら高精度/高分解能各種コーティング材の膜厚を測定 F400， F1， F1/90， F10， N1， CN02の6種類のプローブ連続モード、シングルモードを搭載直接測定、バッチ測定平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 2種類の校正方法バックライト付き

仕様測定範囲(um)： 0-400(F400)・0-1250(F1・F1/90度)・0-10000(F10)・0-1250(N1)・0-40(N1・銅上のクローム)・10-200(CNO2)、低域分解能(um)：0.1(F400・F1・F1/90度・N1)・10(F10)・1(CNO2)、1点校正測定精度：± (3%H+1)(F400・F1・F1/90度)・± (3%H+10)(F10)・± (3%H+1.5)(N1)・± (3%H+1)(CNO2)、2点校正測定精度：±[ (1～3) %H+0.7](F400)・±[(1～3)%H+1](F1・F1/90度)・± [(1-3)%H+10](F10)・±[(1-3) %H+1.5](N1)、最小曲率mm：凸面1(F400)・1.5(F1)・平面(F1/90度・CN02)・10(F10)・3(N1)、最小領域の直径mm：Φ3(F400)・Φ7(F1・F1/90度)・Φ40(F10)・Φ5(N1)・Φ7(CN02)、基盤の臨界厚さmm：0.2(F400)・0.5(F1・F1/90度)・2(F10)・0.3(N1)・無制限(CN02) 電源NIMH充電池測定方式磁気誘導(F400・F1・F1/90度・F10)・渦電流(N1・CNO2) 準拠規格DIN・ISO・ASTM・BS 校正ゼロ調整および基準箔校正インターフェイスRS232

1台

￥149,800 税込￥164,780

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TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

磁気誘導(鉄)と渦電流(非鉄)の2 つの動作測定方式用途に応じた6 種類のプローブダイレクトとバッチの2 つの動作モード、連続とシングルの2 つの測定モード平均、最大、最小、テスト番号、標準偏差を記録 640 データのメモリ 2 つの校正方法必要に応じて統計値を印刷するプリンターを内蔵電池残量低下表示とエラーアラームバックライト液晶

寸法(mm)230×86×47 電源充電池内蔵準拠規格DIN・ISO・ASTM・BS インターフェースRS232 動作湿度(%)20-90強い磁場環境ではない動作温度範囲(℃)0-40

1台

￥259,800 税込￥285,780

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TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

Fタイプ磁気誘導(鉄)及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式ゼロ点校正および二点校正連続測定と単一測定直接測定とバッチ測定平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定基板の自動認識

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￥119,800 税込￥131,780

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