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Fプローブを本体に内蔵した廉価モデル一点測定モードゼロ点校正さまざまなアプリケーション向けの3種類の調整可能な解像度 mmとインチの間のな変換

仕様最小試験面積直径：7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm 寸法(mm)110×50×23 測定範囲0-1250um 質量(g)100 電源単4型乾電池2本(別売) 測定方式磁気誘導(F) 最小曲げ半径(mm)凸度1.5 測定誤差1um (±(3%H + 1)um)・5um (±(3%H + 1.5)um)・10um (±(3%H + 10)um) Hは試験片の厚さ動作温度範囲(℃)0-40

1台

￥69,980 税込￥76,978

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

Fタイプ磁気誘導(鉄)及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式ゼロ点校正および二点校正連続測定と単一測定直接測定とバッチ測定平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定基板の自動認識

仕様最小試験面積直径：7mm(F)・5mm(N)、基盤の臨界厚さ：0.5mm(F)・0.3mm(N) 寸法(mm)110×50×23 測定範囲0-1250um(F)・0-1250um(N)・0-40um(N・銅上のクローム板) 質量(g)100 電源単4型乾電池2本(別売) 測定方式磁気誘導(F)・渦電流(N) 最小曲げ半径(mm)凸度1.5(F)・凸度3(N) 分解能0.1um 測定誤差±(3%H+1) um(F・ゼロ点校正)・±(3%H+1.5) um(Nゼロ点校正)・±{(1-3)%H+1}um(F・2点校正)・±{(1-3)%H+1.5}um(N・2点校正) Hは試験物の厚さ動作湿度(%)20-90強い磁場環境ではない動作温度範囲(℃)0-40

1台

￥119,800 税込￥131,780

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TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

TIME2510に有線プローブを追加したタイプ Fタイプ磁気誘導(鉄)及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式ゼロ点校正および二点校正連続測定と単一測定直接測定とバッチ測定平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定基板の自動認識

1台

￥119,800 税込￥131,780

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TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

F型プローブ統合設計直接測定とバッチ測定モード 500件の測定データを保存平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定値と統計値を印刷するプリントアウト(別売TA230プリンタを利用) 単位変換機能

仕様最小試験面積直径：Φ7mm、基材の臨界厚さ：0.5mm 寸法(mm)145×60×28 測定範囲0-1250um 質量(g)132 電源単4型乾電池2本(別売) 測定方式磁気誘導 F 最小曲げ半径(mm)凸1.5・凹9 分解能0.1um 測定誤差±(3%H+1)um(ゼロ点校正)・±[(1%-3%)H+1]um(2点校正) 使用環境温度(℃)0-40

1台

￥73,980 税込￥81,378

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

渦電流プローブ統合設計直接測定とバッチ測定モード 500件の測定データを保存平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定値と統計値を印刷するプリントアウト(別売TA230プリンタを利用)

仕様最小試験面積直径：Φ7mm、基材の臨界厚さ：0.5mm 寸法(mm)145×60×28 測定範囲0-1250um 質量(g)132 電源単4型乾電池2本(別売) 測定方式渦電流最小曲げ半径(mm)凸1.5・凹9 分解能0.1um 測定誤差±(3%H+1)um(ゼロ点校正)・±[(1%-3%)H+1]um(2点校正) 使用環境温度(℃)0-40

1台

￥73,980 税込￥81,378

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