K1Gは、平行光レーザーとCMOSリニアイメージセンサの組み合わせで、ワーク位置を高精度に計測できます。
用途フィルムの蛇行計測・フィルムのシート厚み計測。電子部品の異品種混入・ガラス基板の異常判別・ウエハアライメント。
規格JIS C 1602
測温接点非接地
種類シングルエレメント
規格JIS C 1605
測温接点非接地
材質(シース)ASTM316L(SUS316L相当)
規格JIS C 1605
測温接点非接地
材質(シース)ASTM316L(SUS316L相当)
規格JIS C 1602
規格JIS C 1604
材質(シース)ASTM316L(SUS316L相当)
規格JIS C 1604
規格JIS C 1604