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ウレタン防水層膜厚計 ケツト科学研究所ウレタン防水層膜厚計ケツト科学研究所
289,800税込318,780
1個
12日以内出荷
ウレタン防水層(非磁性金属シート敷設のもの)の厚さ測定用の渦電流膜厚計 厚膜測定用モデル(0~12mm) 専用渦電流式プローブ付属 ウレタン防水層から剥離しやすい圧力分散板付属
仕様●測定方式:渦電流式●プローブ:ウレタン防水層膜厚計用プローブ●測定対象:非磁性金属上の絶縁被膜●測定範囲:0~12mm●測定精度:1mm未満/±0.03mm、1mm以上/±3%●分解能:10mm未満/0.01mm、10mm以上/0.1mm●データメモリ数:約8,000点●アプリケーションメモリ:100本●表示方法:デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.01mm)●外部出力:PC(USBまたはRS-232C)●電源:電池1.5V(単3アルカリ)×4●消費電力:130mW(バックライト非点灯時)●電池寿命:100時間(バックライト非点灯時、連続使用)●使用温度範囲:0~40℃●付加機能:各種機能16種●寸法・質量:本体:75(W)×145(D)×31(H)mm、0.34Kg●プローブ:Φ42 ×103 mm、0.17kg●付属品:アルミ素地、圧力分散板、標準板(5枚セット)、電池1.5V(単3アルカリ)×4、ソフトケース、取扱説明書●オプション:標準板(付属品以外の厚さ)、パソコンケーブル、RS-232C-USBケーブル、データ管理ソフト:データロガー LDL-03アズワン品番67-8735-81
プリンタ内蔵型膜厚計 ケツト科学研究所プリンタ内蔵型膜厚計ケツト科学研究所
319,800税込351,780
1台
6日以内出荷
プリンタ内蔵の膜厚計最上位モデル ブロック/グループ統計計算機能
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合:15μm未満:±0.3μm、15μm以上1、000μm:±2%、 1、000μm以上:±3%/渦電流式(HP-100)の場合:50μm未満:±1.0μm、50μm以上:±2%分解能(μm)100未満:0.1、100以上:1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合:0~2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合:0~1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付 ケツト科学研究所プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付ケツト科学研究所
479,800税込527,780
1セット
14日以内出荷
膜厚計L-500とプローブのセット品
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合:15μm未満:±0.3μm、15μm以上1、000μm:±2%、 1、000μm以上:±3%/渦電流式(HP-100)の場合:50μm未満:±1.0μm、50μm以上:±2%分解能(μm)100未満:0.1、100以上:1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合:0~2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合:0~1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ校正証明書付き
プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付 ケツト科学研究所プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付ケツト科学研究所
429,800税込472,780
1セット
6日以内出荷
膜厚計L-500とプローブのセット品
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合:15μm未満:±0.3μm、15μm以上1、000μm:±2%、 1、000μm以上:±3%/渦電流式(HP-100)の場合:50μm未満:±1.0μm、50μm以上:±2%分解能(μm)100未満:0.1、100以上:1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合:0~2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合:0~1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
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