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プリンタ内蔵型膜厚計ケツト科学研究所￥319,800税込￥351,780
1台
6日以内出荷
プリンタ内蔵の膜厚計最上位モデル ブロック/グループ統計計算機能
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合：15μm未満：±0.3μm、15μm以上1、000μm：±2%、 1、000μm以上：±3%/渦電流式(HP-100)の場合：50μm未満：±1.0μm、50μm以上：±2%分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合：0～2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合：0～1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付ケツト科学研究所￥479,800～税込￥527,780～
1セット
14日以内出荷
膜厚計L-500とプローブのセット品
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合：15μm未満：±0.3μm、15μm以上1、000μm：±2%、 1、000μm以上：±3%/渦電流式(HP-100)の場合：50μm未満：±1.0μm、50μm以上：±2%分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合：0～2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合：0～1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ校正証明書付き
プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付ケツト科学研究所￥429,800～税込￥472,780～
1セット
6日以内出荷
膜厚計L-500とプローブのセット品
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合：15μm未満：±0.3μm、15μm以上1、000μm：±2%、 1、000μm以上：±3%/渦電流式(HP-100)の場合：50μm未満：±1.0μm、50μm以上：±2%分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合：0～2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合：0～1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
【レンタル】デュアルタイプ膜厚計(校正書付)ケツト科学研究所￥5,998～税込￥6,598～
1台
翌日出荷から3日以内出荷
セット内容本体、単3電池×4、キャリングケース、Feプローブ、NFeプローブ、標準板、標準板ケース、鉄素地、アルミ素地、プローブアダプタ、データ管理ソフト、パソコンケーブル(RS-232C)、RS-232C USB変換器、収納ケース、取扱説明書寸法(mm)75×145×31質量(kg)0.34測定範囲電磁誘導式：0～2500μmまたは99.0mils、渦電流式：0～1200μmまたは47.0mils電源電池1.5V(単3アルカリ)×4適合規格電磁誘導式：JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401、ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376・渦電流式：JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501、ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376測定方式電磁誘導式/渦電流式兼用プローブ一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J)測定精度50μm 未満：±1μm、50μm以上1000μm未満：±2%、1000μm以上：±3%表示方式デジタル(バックライト付LCD 128×64 dots、表示最小桁0.1μm)分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1外部出力パソコン(USBまたはRS-232C)、プリンタ(RS-232C)に出力可能機能アプリケーション選択、素地補正、データ削除、データメモリ、上下限設定、統計計算(測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値)、表示選択、日付・時刻、自動 off 時間、バックライト明るさ、バックライト時間、単位、データ出力、自動ロット区分、測定方法、メンテナンスモード測定対象磁性金属上の非磁性被膜、非磁性金属上の絶縁被膜電池寿命(連続時間)バックライト非点灯時：100データメモリ(点)39000消費電力(mW)80(バックライト非点灯時)メモリー数アプリケーションメモリ：電磁誘導式50本、渦電流式50本動作温度範囲(℃)0～40
