無影で均一な光を照射。
拡散光によりハレーション対策に最適。
用途IC捺印検査。
ウェハの外観検査。
基板上の部品検査。
側面からの拡散光による無影均一照射。
拡散光によりハレーション対策に最適。
用途プラスチックキャップの側面検査。
エンボステープ内のQFP・SOP等のリード検査。
側面からの拡散光による無影均一照射。
拡散光によりハレーション対策に最適。
用途プラスチックキャップの側面検査。
エンボステープ内のQFP・SOP等のリード検査。
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