電子デバイスなどの静電気破壊の原因となる少量の静電気を測定できます。
非接触で測定物の電位を検出し、測定できます。
表示部と検出部がセパレートになっており狭い場所の測定ができ、測定値を手元で見る事ができます。
用途各種電子部品(半導体IC、光ピックアップ、GMRヘッド等)の帯電量測定。
基板・液晶パネル等の電位分布の測定。
その他比較的帯電量が少ない物の測定。
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