マイクロメータヘッド ：「マイク ねじ」の検索結果
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エコ商品
ねじクランプによりクランプの力を向上させました。
クランプのねじ位置はスリーブの基線位置と同一です。
仕様測定面：ラップ仕上げ
測定範囲(mm)0～6.5
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.01
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
目盛仕様正目盛
材質(測定面)合金工具鋼
RoHS指令(10物質対応)対応
位置クランプねじ：基線位置
ねじクランプによりクランプの力を向上させました。
クランプのねじ位置はスリーブの基線位置と同一です。
RoHS指令(10物質対応)対応
ねじクランプによりクランプの力を向上させました。
クランプのねじ位置はスリーブの基線位置と同一です。
目量(mm)0.01
素早い送り位置決めが可能なスピンドルピッチ1mmのマイクロメータヘッドです。
ねじ山が大きいので耐荷重にも優れています。
目量(mm)0.01
先端形状平面、(超硬合金チップ付)
ステム形状ストレートステム
スピンドルピッチ0.1mmの高精度ねじ加工技術の実現により、従来の0.5mmピッチに対し、1/5の微細送りを可能にしました。
用途半導体装置のテーブル送り、光学用光軸調整装置の微細送りなど。
測定範囲(mm)0～6.5
最小表示(mm)0.002
全長(mm)55
先端形状球面(SR4)
スピンドルピッチ0.1mmの高精度ねじ加工技術の実現により、従来の0.5mmピッチに対し、1/5の微細送りを可能にしました。
外観形状は従来の標準タイプ(0.5mmピッチ)と互換性を持たせていますので、簡単に交換ができます。
半導体装置のテーブル送り、光学用光軸調整装置の微細送りなどに使用できます。
仕様測定面：ラップ仕上げ
質量(g)10
測定範囲(mm)0～6.5
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.002
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
先端形状球面(SR3)
目盛仕様正目盛
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE：±5
RoHS指令(10物質対応)対応
スピンドルピッチ0.1mmの高精度ねじ加工技術の実現により、従来の0.5mmピッチに対し、1/5の微細送りを可能にしました。
外観形状は従来の標準タイプ(0.5mmピッチ)と互換性を持たせていますので、簡単に交換ができます。
半導体装置のテーブル送り、光学用光軸調整装置の微細送りなどに使用できます。
仕様測定面：ラップ仕上げ
測定範囲(mm)0～6.5
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.002
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
先端形状球面(SR4)
目盛仕様正目盛
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE：±2
RoHS指令(10物質対応)対応
スピンドルピッチ0.1mmの高精度ねじ加工技術の実現により、従来の0.5mmピッチに対し、1/5の微細送りを可能にしました。
外観形状は従来の標準タイプ(0.5mmピッチ)と互換性を持たせていますので、簡単に交換ができます。
半導体装置のテーブル送り、光学用光軸調整装置の微細送りなどに使用できます。
仕様測定面：ラップ仕上げ
測定範囲(mm)0～6.5
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.002
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
先端形状球面(SR4)
目盛仕様正目盛
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE：±2
RoHS指令(10物質対応)対応
測定物に対し、ねじれの影響を与えないスピンドル直進タイプのマイクロメータヘッドです。測定物の回転を防ぎ、変形・磨耗がおさえられます。
先端形状平面(超硬合金チップ付)
仕様測定面：ラップ仕上げ
シリーズ153
硬度測定面：90HRA以上
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
ステム形状ストレート
材質(測定面)超硬合金チップ
最大許容誤差(μm)JMPE：±3
測定物に対し、ねじれの影響を与えないスピンドル直進タイプのマイクロメーターヘッドです。
測定物の回転を防ぎ、変形摩耗がおさえられます。
測定範囲(mm)0～25
目量(mm)0.001
仕様測定面：ラップ仕上げ
タイプラチェット・バーニヤ付き
シリーズ153
硬度測定面：90HRA以上
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
先端形状平面(超硬合金チップ付)
ステム形状ストレートステム
材質(測定面)超硬合金チップ
最大許容誤差(μm)JMPE：±3
RoHS指令(10物質対応)対応
ストロークに対して、全長を押さえた設計(太くて短い設計)で機械への組込みもスペースをとりません。
シンブル直径は、3種類を用意、用途に応じた選択や交換ができます。
目量(mm)0.01
器差(μm)±2
『マイクロメーター』には他にこんなカテゴリがあります
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