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50未満(36)
50~100未満(5)
ねじクランプによりクランプの力を向上させました。
クランプのねじ位置はスリーブの基線位置と同一です。
仕様測定面:ラップ仕上げ
測定範囲(mm)0~6.5
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.01
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
目盛仕様正目盛
材質(測定面)合金工具鋼
RoHS指令(10物質対応)対応
位置クランプねじ:基線位置
測定物に対し、ねじれの影響を与えないスピンドル直進タイプのマイクロメータヘッドです。測定物の回転を防ぎ、変形・磨耗がおさえられます。
先端形状平面(超硬合金チップ付)
仕様測定面:ラップ仕上げ
シリーズ153
硬度測定面:90HRA以上
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
ステム形状ストレート
材質(測定面)超硬合金チップ
最大許容誤差(μm)JMPE:±3
スピンドルピッチ0.1mmの高精度ねじ加工技術の実現により、従来の0.5mmピッチに対し、1/5の微細送りを可能にしました。
外観形状は従来の標準タイプ(0.5mmピッチ)と互換性を持たせていますので、簡単に交換ができます。
半導体装置のテーブル送り、光学用光軸調整装置の微細送りなどに使用できます。
仕様測定面:ラップ仕上げ
質量(g)10
測定範囲(mm)0~6.5
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.002
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
先端形状球面(SR3)
目盛仕様正目盛
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE:±5
RoHS指令(10物質対応)対応
小形・軽量のため、機械への組込みもスペースをとりません。
仕様測定面:ラップ仕上げ
測定範囲(mm)0~6.5
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.01
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE:±5
RoHS指令(10物質対応)対応
測定範囲25mmの汎用タイプです。測定面は超硬合金チップ付。
測定範囲(mm)0~25
目量(mm)0.01
シリーズ150
先端形状平面
ステム形状ナット付ステム
RoHS指令(10物質対応)対応
測定範囲13mmの小形・汎用タイプです。
仕様測定面:ラップ仕上げ
測定範囲(mm)0~13
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.01
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE:±2
RoHS指令(10物質対応)対応
測定範囲に対し、全長を抑えた設計(太くて短い設計)で器械への組み込みもスペースを取りません。
シンブル直径は、3種類を用意、用途に応じた選択や交換ができます。
仕様測定面:ラップ仕上げ
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.01
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE:±2
RoHS指令(10物質対応)対応
ねじクランプによりクランプの力を向上させました。
クランプのねじ位置はスリーブの基線位置と同一です。
スピンドルピッチ0.1mmの高精度ねじ加工技術の実現により、従来の0.5mmピッチに対し、1/5の微細送りを可能にしました。
外観形状は従来の標準タイプ(0.5mmピッチ)と互換性を持たせていますので、簡単に交換ができます。
半導体装置のテーブル送り、光学用光軸調整装置の微細送りなどに使用できます。
仕様測定面:ラップ仕上げ
測定範囲(mm)0~6.5
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.002
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
先端形状球面(SR4)
目盛仕様正目盛
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE:±2
RoHS指令(10物質対応)対応
大径シンブルを採用し、細かい位置決め読み取りのできるようにしたマイクロメーターヘッドです。
測定範囲(mm)0~10
目量(mm)0.002
器差(μm)±2
先端形状平面(超硬合金チップ付)
ステム形状ナット付ステム
測定範囲13mmの小形・汎用タイプです。シンブルでの基点調整が簡単にできます。
測定範囲(mm)0~13
目量(mm)0.01
スピンドルピッチ0.1mmの高精度ねじ加工技術の実現により、従来の0.5mmピッチに対し、1/5の微細送りを可能にしました。
外観形状は従来の標準タイプ(0.5mmピッチ)と互換性を持たせていますので、簡単に交換ができます。
半導体装置のテーブル送り、光学用光軸調整装置の微細送りなどに使用できます。
仕様測定面:ラップ仕上げ
測定範囲(mm)0~6.5
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.002
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
先端形状球面(SR4)
目盛仕様正目盛
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE:±2
RoHS指令(10物質対応)対応
微動送り・細かい位置決めに便利なスピンドル
ピッチ0.25mmのマイクロメータヘッドです。
仕様測定面:ラップ仕上げ
ピッチ(mm)0.25
測定範囲(mm)0~6.5
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.01
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
先端形状球面(SR4)
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE:±2
RoHS指令(10物質対応)対応
微動送り・細かい位置決めに便利なスピンドル
ピッチ0.25mmのマイクロメータヘッドです。
仕様測定面:ラップ仕上げ
ピッチ(mm)0.25
測定範囲(mm)0~13
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.01
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
先端形状球面(SR4)
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE:±2
RoHS指令(10物質対応)対応
XYテーブル専用に開発された、マイクロメータヘッドです。
測定範囲(mm)0~25
器差(μm)±2
ステム形状ストレート
ねじクランプによりクランプの力を向上させました。
クランプのねじ位置はスリーブの基線位置と同一です。
目量(mm)0.01
大径シンブルを採用した、スピンドル直進タイプのマイクロメーターヘッドです。
スピンドルを固定した状態でシンブルを自由に回転できますので、シンブルのゼロ調整が任意の位置でセットできます。
2重スピンドルの作動機構により、シンブル1回転でスピンドルが1mm移動します。(標準品は0.5mm)
測定範囲(mm)0~50
目量(mm)0.005
先端形状平面(超硬合金チップ付)
測定物に対し、ねじれの影響を与えないスピンドル直進タイプのマイクロメーターヘッドです。
測定物の回転を防ぎ、変形摩耗がおさえられます。
測定範囲(mm)0~25
目量(mm)0.001
仕様測定面:ラップ仕上げ
タイプラチェット・バーニヤ付き
シリーズ153
硬度測定面:90HRA以上
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
先端形状平面(超硬合金チップ付)
ステム形状ストレートステム
材質(測定面)超硬合金チップ
最大許容誤差(μm)JMPE:±3
RoHS指令(10物質対応)対応
ストロークに対して、全長を押さえた設計(太くて短い設計)で機械への組込みもスペースをとりません。
シンブル直径は、3種類を用意、用途に応じた選択や交換ができます。
目量(mm)0.01
器差(μm)±2
測定範囲13mmの小形汎用タイプです。
シンブルでの基点調整が簡単にできます。
測定範囲(mm)0~13
目量(mm)0.01
高精度高分解能のマイクロメータヘッドです。
スピンドルは直進式です。
測定範囲(mm)0~25
目量(mm)0.0005(バーニヤ)
器差(mm)広範囲±1、狭範囲±0.5
先端形状平面、(超硬合金チップ付)
ステム形状ストレートステム
素早い送り位置決めが可能なスピンドルピッチ1mmのマイクロメータヘッドです。
ねじ山が大きいので耐荷重にも優れています。
目量(mm)0.01
先端形状平面、(超硬合金チップ付)
ステム形状ストレートステム
大径シンブルを採用し、細かい位置決め読み取りのできるようにしたマイクロメータヘッドです。
目量(mm)0.002
ステム形状ストレート
スピンドルピッチ0.1mmの高精度ねじ加工技術の実現により、従来の0.5mmピッチに対し、1/5の微細送りを可能にしました。
用途半導体装置のテーブル送り、光学用光軸調整装置の微細送りなど。
測定範囲(mm)0~6.5
最小表示(mm)0.002
全長(mm)55
先端形状球面(SR4)
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- アナログ式マイクロメータヘッド
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