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磁気・渦電流膜厚計プローブN1
TIME￥31,980税込￥35,1781台10日以内出荷仕様最小曲率：3mm、最小領域：Φ5mm、基盤の臨界厚さ：0.3mm測定方式渦電流分解能0.1um測定範囲(μm)0-1250測定誤差±(3%H+1.5)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1.5]um(2点校正)
磁気・渦電流膜厚計プローブF400
TIME￥99,980税込￥109,9781本10日以内出荷仕様最小曲率：凸面1mm、最小領域：Φ3mm、基盤の臨界厚さ：0.2mm測定方式磁気誘導分解能0.1um測定範囲(μm)0-400、0-40(銅上のクロム板)測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+0.7]um(2点校正)
磁気・渦電流膜厚計プローブF10
TIME￥99,980税込￥109,9781本10日以内出荷仕様最小曲率：10mm、最小領域：Φ40mm、基盤の臨界厚さ：2mm測定方式磁気誘導分解能10um測定範囲(μm)0-10000測定誤差±(3%H+10)um(1点校正)・±[(1～3)H%+10]um(2点校正)
磁気・渦電流膜厚計プローブF1/90
TIME￥169,800税込￥186,7801本10日以内出荷仕様最小曲率：平にする、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm測定方式磁気誘導分解能0.1um測定範囲(μm)0-1250測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1]um(2点校正)
磁気・渦電流膜厚計プローブF1
TIME￥31,980税込￥35,1781本10日以内出荷仕様最小曲率：1.5mm、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm測定方式磁気誘導分解能0.1um測定範囲(μm)0-1250測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1]um(2点校正)
磁気・渦電流膜厚計プローブCN02
TIME￥44,980税込￥49,4781本10日以内出荷仕様最小曲率：平にする、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：無制限測定方式渦電流分解能1um測定範囲(μm)0-200測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)
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