測定用品 :「収納ケース」の検索結果
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商品本体に、校正機関にて校正を行った校正証明書がセットになった商品となります。
校正証明書一般校正
最も一般的に使われているノギスです。本尺とスライダの間にゴミが入らない目盛面段付です。バーニヤ目盛面の傾斜がゆるく(14°)、読み取りやすくなっています。本尺とスライダの頭部端面を、0基点(測定面)としていますので、段差測定ができます。標準ノギスでは、外側、内側、深さ測定のほかに段差測定と4種の測定ができます。超硬合金チップ付は荒加工品、鋳物、砥石などの測定に最適です。
最小読取値(mm)0.05
校正証明書一般校正(英語)
商品本体に、校正機関にて校正を行った校正証明書がセットになった商品となります。
校正証明書一般校正
商品本体に、校正機関にて校正を行った校正証明書がセットになった商品となります。
校正証明書一般校正
商品本体に、校正機関にて校正を行ったJCSS校正証明書がセットになった商品となります。素手で取り扱え、多湿の場所でも使用後の防錆処理が不要。測定面にキズが入った場合でも、かえりが出にくい。万が一かえりが発生した場合でもセラミックス砥石「セラストン」で除去が可能。鋼製に比べ10倍の耐摩耗性があり、長くご使用が可能。セラミックス製の為ゲージブロックのJIS規格で許容される経年劣化がない。白地に黒文字で読みやすいマーキング。磁化せず鉄粉等が付かない。均一で緻密な組織により高い密着力を維持
校正証明書JCSS校正
商品本体に、校正機関にて校正を行った校正証明書がセットになった商品となります。
校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
商品本体に、校正機関にて校正を行ったJCSS校正証明書がセットになった商品となります。素手で取り扱え、多湿の場所でも使用後の防錆処理が不要。測定面にキズが入った場合でも、かえりが出にくい。万が一かえりが発生した場合でもセラミックス砥石「セラストン」で除去が可能。鋼製に比べ10倍の耐摩耗性があり、長くご使用が可能。セラミックス製の為ゲージブロックのJIS規格で許容される経年劣化がない。白地に黒文字で読みやすいマーキング。磁化せず鉄粉等が付かない。均一で緻密な組織により高い密着力を維持
校正証明書JCSS校正
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校正証明書一般校正
商品本体に、校正機関にて校正を行った校正証明書がセットになった商品となります。
校正証明書一般校正
商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。
校正証明書JCSS校正
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校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。
校正証明書JCSS校正
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校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。
校正証明書JCSS校正
商品本体に、校正機関にて校正を行ったJCSS校正証明書がセットになった商品となります。高度なラッピング技術により優れた密着性を実現。高炭素高クロム鋼を使用し極限まで経年劣化を抑えた高硬度製品
校正証明書JCSS校正
商品本体に、校正機関にて校正を行ったJCSS校正証明書がセットになった商品となります。素手で取り扱え、多湿の場所でも使用後の防錆処理が不要。測定面にキズが入った場合でも、かえりが出にくい。万が一かえりが発生した場合でもセラミックス砥石「セラストン」で除去が可能。鋼製に比べ10倍の耐摩耗性があり、長くご使用が可能。セラミックス製の為ゲージブロックのJIS規格で許容される経年劣化がない。白地に黒文字で読みやすいマーキング。磁化せず鉄粉等が付かない。均一で緻密な組織により高い密着力を維持
校正証明書JCSS校正
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校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
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校正証明書一般校正
商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。マイクロメータ検査用の専用セットです。BM1-10M、BM3-10Mは、JIS B 7502-1994 マイクロメータ「器差の測定方法」に推奨されている組み合わせです。大形マイクロメータの器差の検査にはBM1-8M、BM3-8Mを併用すると便利です。BM1-10MK、BM3-10MKは、シンブル1回転でスピンドルが2.0mm移動するカンタマイク検査用の専用セットです。
校正証明書JCSS校正
商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。マイクロメータ検査用の専用セットです。BM1-10M、BM3-10Mは、JIS B 7502-1994 マイクロメータ「器差の測定方法」に推奨されている組み合わせです。大形マイクロメータの器差の検査にはBM1-8M、BM3-8Mを併用すると便利です。BM1-10MK、BM3-10MKは、シンブル1回転でスピンドルが2.0mm移動するカンタマイク検査用の専用セットです。
校正証明書JCSS校正
商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。マイクロメータ検査用の専用セットです。BM1-10M、BM3-10Mは、JIS B 7502-1994 マイクロメータ「器差の測定方法」に推奨されている組み合わせです。大形マイクロメータの器差の検査にはBM1-8M、BM3-8Mを併用すると便利です。
校正証明書JCSS校正
商品本体に、メーカーにて校正を行った校正証明書・検査成績書・トレサビリティ体系図がセットになった商品となります。瞬間の実態がとらえにくい張力をメカ的に測定できます。ダイヤルゲージの測定力、リレー、マイクロスイッチ、バルブなどの接触力、あるいは精密ばね類のばね圧測定に広く利用されています。アーム支点にはミニチュアベアリングを使用していますので、安定した測定値が得られます。標準形と置針形の2種類があります。
仕様目量:0.1N●測定範囲:0.3~3N●精度:±0.5目盛●形状:標準品●付属品:収納ケース
アズワン品番64-3760-77
校正証明書一般校正
1個
¥16,980
税込¥18,678
36日以内出荷
商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。マイクロメータ検査用の専用セットです。BM1-10M、BM3-10Mは、JIS B 7502-1994 マイクロメータ「器差の測定方法」に推奨されている組み合わせです。大形マイクロメータの器差の検査にはBM1-8M、BM3-8Mを併用すると便利です。BM1-10MK、BM3-10MKは、シンブル1回転でスピンドルが2.14mm移動するカンタマイク検査用の専用セットです。
校正証明書JCSS校正
商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。
校正証明書JCSS校正
商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。
校正証明書JCSS校正
不定形の狭い寸法間の測定などに使用できます。段差測定も可能です。測定データの出力端子があり、統計的工程管理システムや計測システムが構成できます。
仕様器差(mm):±0.05●付属品:収納ケース
最小読取値(mm)0.05
最大測定長(mm)150
アズワン品番63-7290-26-57
校正証明書一般校正(中国語)
1個
¥29,980
税込¥32,978
16日以内出荷
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