測定用品 :「膜厚計 校正」の検索結果

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仕様最小曲率:10mm、最小領域:Φ40mm、基盤の臨界厚さ:2mm 測定方式磁気誘導 分解能10um 測定範囲(μm)0-10000 測定誤差±(3%H+10)um(1点校正)・±[(1~3)H%+10]um(2点校正)
1本
99,980 税込109,978
10日以内出荷

サンコウ電子SWT-NEO専用プローブ
RoHS
RoHS指令(10物質対応)対応
1セット
189,800 税込208,780
翌々日出荷から22日以内出荷
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