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測定関連サービス :「膜厚計 校正」の検索結果

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【レンタル】高性能膜厚計レプトスコープ(校正書付) 日本マテック【レンタル】高性能膜厚計レプトスコープ(校正書付)日本マテック
5,198税込5,718
1台
翌日出荷から3日以内出荷
セット内容本体(LEPTOSKOP/単3乾電池×2)、標準板(6枚セット)、鉄素地、取扱説明書、収納ケース質量(g)220種類プローブ:Fe磁性用出力RC232C プリンター・パソコン電源単3アルカリ電池2本、33時間使用(標準)、単3充電式電池使用可能測定精度100μm以上:1~3%±1μm 、100μm以下:1%±1μm表示方式液晶表示・バックライト付寸法(幅W×奥行D×高さH)(mm)81×32×121機能平均値、偏差値、最大・最小、上下限設定測定範囲(μm)プローブ:0~500、本体:接続プローブにより異なる表示桁数4桁 最小分解能 0.1μm(100μmまで)測定原理磁性体母材:DIN50981・ISO2178電磁法による、非磁性体母材:DIN50984・ISO2360渦流法による表示範囲(mm)有効:48×24解像度128×64ピクセル動作温度範囲(℃)バッテリー入り:-5~45、バッテリーなし:-20~60

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