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ケツト科学研究所・JFEアドバンテック
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【レンタル】デュアルタイプ膜厚計(校正書付)ケツト科学研究所￥5,598～税込￥6,158～
1台
翌日出荷から3日以内出荷
小型ボディに多機能を凝縮
デュアルタイプ膜厚計 LZ-370は、磁性体上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です。多様な素材、多様な被膜を扱う現場用として最適な膜厚計です。
セット内容本体、キャリングケース、Feプローブ、NFeプローブ、標準板、標準板ケース、鉄素地、アルミ素地、プローブアダプタ、データ管理ソフト(CD-R)、パソコンケーブル(RS-232C)、RS-232C USB変換器、収納ケース寸法(mm)75(W)×145(D)×31(H)質量(kg)0.34測定範囲電磁誘導式：0～2500μmまたは99.0mils、渦電流式：0～1200μmまたは47.0mils電源単3アルカリ乾電池4本測定方式電磁誘導式/渦電流式兼用測定精度50μm未満：±1μm、50μm以上1000μm未満：±2%、1000μm 以上：±3%分解能100μm未満：0.1μm、100μm以上：1μm測定対象磁性金属上の非磁性被膜、非磁性金属上の絶縁被膜動作温度範囲(℃)0～40℃
【レンタル】デュアルタイプ膜厚計(校正書付)ケツト科学研究所￥5,998～税込￥6,598～
1台
翌日出荷から3日以内出荷
セット内容本体、単3電池×4、キャリングケース、Feプローブ、NFeプローブ、標準板、標準板ケース、鉄素地、アルミ素地、プローブアダプタ、データ管理ソフト、パソコンケーブル(RS-232C)、RS-232C USB変換器、収納ケース、取扱説明書寸法(mm)75×145×31質量(kg)0.34測定範囲電磁誘導式：0～2500μmまたは99.0mils、渦電流式：0～1200μmまたは47.0mils電源電池1.5V(単3アルカリ)×4適合規格電磁誘導式：JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401、ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376・渦電流式：JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501、ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376測定方式電磁誘導式/渦電流式兼用プローブ一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J)測定精度50μm 未満：±1μm、50μm以上1000μm未満：±2%、1000μm以上：±3%表示方式デジタル(バックライト付LCD 128×64 dots、表示最小桁0.1μm)分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1外部出力パソコン(USBまたはRS-232C)、プリンタ(RS-232C)に出力可能機能アプリケーション選択、素地補正、データ削除、データメモリ、上下限設定、統計計算(測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値)、表示選択、日付・時刻、自動 off 時間、バックライト明るさ、バックライト時間、単位、データ出力、自動ロット区分、測定方法、メンテナンスモード測定対象磁性金属上の非磁性被膜、非磁性金属上の絶縁被膜電池寿命(連続時間)バックライト非点灯時：100データメモリ(点)39000消費電力(mW)80(バックライト非点灯時)メモリー数アプリケーションメモリ：電磁誘導式50本、渦電流式50本動作温度範囲(℃)0～40
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