定盤・ゲージ・ケガキ ：「M4 ゲージ」の検索結果

商品本体に、校正機関にて校正を行った校正証明書がセットになった商品となります。

商品本体に、校正機関にて校正を行った校正証明書がセットになった商品となります。

商品本体に、校正機関にて校正を行ったJCSS校正証明書がセットになった商品となります。素手で取り扱え、多湿の場所でも使用後の防錆処理が不要。測定面にキズが入った場合でも、かえりが出にくい。万が一かえりが発生した場合でもセラミックス砥石「セラストン」で除去が可能。鋼製に比べ10倍の耐摩耗性があり、長くご使用が可能。セラミックス製の為ゲージブロックのJIS規格で許容される経年劣化がない。白地に黒文字で読みやすいマーキング。磁化せず鉄粉等が付かない。均一で緻密な組織により高い密着力を維持

商品本体に、校正機関にて校正を行ったJCSS校正証明書がセットになった商品となります。高度なラッピング技術により優れた密着性を実現。高炭素高クロム鋼を使用し極限まで経年劣化を抑えた高硬度製品

商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。

商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。

商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。マイクロメータ検査用の専用セットです。BM1-10M、BM3-10Mは、JIS B 7502-1994 マイクロメータ「器差の測定方法」に推奨されている組み合わせです。大形マイクロメータの器差の検査にはBM1-8M、BM3-8Mを併用すると便利です。BM1-10MK、BM3-10MKは、シンブル1回転でスピンドルが2.14mm移動するカンタマイク検査用の専用セットです。

商品本体に、メーカーにて校正を行ったJCSS校正証明書とトレサビリティ体系図がセットになった商品となります。

商品本体に、校正機関にて校正を行った校正証明書がセットになった商品となります。

スケヤゲージブロックの中央の穴を利用することでリンギング後アクセサリのタイロットを使用することで確実に固定することが可能です。 各種基準器や専用測定治具が容易に、しかも安価に製作出来ます。