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TIME・日本ベーカーヒューズ(旧GEセンシング)
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【レンタル】超音波探傷器(校正書付)+超音波探傷器探触子キット日本ベーカーヒューズ(旧GEセンシング)￥5,998～税込￥6,598～
1台
翌日出荷から5日以内出荷
溶接部検査に優れたポータブル超音波探傷器。7インチの大画面を搭載し、最先端技術により優れたUT性能、品質向上を可能とします。
仕様【時間軸】表示遅延：-15～3500μs・探触子ディレイ：0～1000μs・音速：250～16000m/s・PRF：15～2000Hz(自動/マニュアル)・自動設定モード：Auto Low/Auto Med/Auto High/マニュアル、【パルス】パルスモード：スパイクパルス/スクエアパルス・パルス電圧(スクエア)：120～300V(10V step/許容誤差 10%)・パルス電圧(スパイクモード)：【low】120V/【high】 300V・パルス電圧(スパイクモード)：【low】120V/【high】 300V・パルスエネルギー(スパイクモード)：【low】30ns/【high】 100ns・ダンピング：50Ω / 1000Ω、【レシーバー】デジタルゲイン：ダイナミックレンジ 110dB(0.2 dB step)・アナログ帯域幅：0.5～20MHz・等価入力ノイズ：<80 nV/ √ Hz・フィルター：広帯域：1-5 MHz / 2， 2.25 MHz / 4， 5 MHz / 10 MHz / 13， 15 MHz・検波：正半波、負半波、全波、RF、【ゲート】独立ゲート：A/B ゲート(B ゲート追従可)・C ゲート(オプション，A/Bゲート追従可)・測定モード：ピーク/フランク/Jフランク/Jしきい値、【メモリー】データセット：UGO データ構造(ASCII 形式)・レポート：JPG 形式または BMP 形式、【一般】DAC/JISDAC/CNDAC：DAC 機能・16 ポイント(EN 17124， EN 1713，EN 1714， ASTM E 164， ASME， ASME III， JIS Z 3060， GB11345 に準拠)・TCG： ダイナミックレンジ 120dB， 110dB/μs・slope・充電レベル：比例充電レベルインジケータ・ACアダプタ：ユニバーサル 100 ～ 240VAC(50/60Hz)セット内容本体(バッテリー内蔵)・カプラント・SDカード・ACアダプタセット・USBケーブル・ソフトウェア(CD-R)・取扱説明書(本体)・取扱説明書(クイックスタートガイド)・収納ケース質量(kg)2.2(バッテリー含む)測定範囲【表示画面】4～14108mm(555inch)鋼中縦波外形寸法(幅W×奥行D×高さH)(mm)255×100×177保護等級IEC 60529による保護等級IP66に準拠記録媒体標準 SD カードインターフェース【USB】USBタイプ B コネクタ/【サービス】LEMO-1B(8 ピン)バッテリーリチウムイオン充電電池パルス幅30～500ns(10ns step)(スクエアモード)AWS規格AWS 機能(AWS D1.1 構造物溶接規格による)動作時間約14時間(完全充電後)コネクタ【探触子コネクタ】2×LEMO-1立ち上がり時間最大10ns充電方式ACアダプタによる本体内部充電画面サイズ7インチ言語表示日本語、英語、ブルガリア語、中国語、チェコ語、オランダ語、フィンランド語、フランス語、ドイツ語、ハンガリー語、イタリア語、ノルウェー語、ポーランド語、ポルトガル語、ルーマニア語、ロシア語、スペイン語、スウェーデン語耐久性【耐湿温度サイクル(保管時)】EN 60068 Part 2-30・6cycle ：9時間+25℃に保温後、3時間かけて+55℃になるまで加熱し、9時間+55℃に保温し、それから3時間かけて+25℃になるまで冷却する(湿度は93%とする)、【振動】EN 60068 Part 2-6・軸あたり 2g， 5℃ 150Hz， 1 oct/min， 25 cycle、【衝撃】EN 60068 Part 2-27・軸あたり 1，000 cycle， 15g， 11ms， 正弦半波保管温度範囲(℃)-20～60(バッテリーなし)【低温での保管】-20℃にて 72 時間，502.5 Procedure I・【高温での保管】+70℃にて 48 時間，501.5 Procedure I動作温度範囲(℃)-10～55【低温での使用】-10℃にて 16 時間， 502.5 Procedure II、【高温での使用】+55℃にて 16 時間，501.5 Procedure II画面寸法(mm)152.4×91.44(800×480 ピクセル)カードスロット標準 SD カード対応サービス分類レンタル
超音波探傷器TUD500TIME￥899,800税込￥989,780
1台
10日以内出荷
大型VGA(640x480)解像度カラーディスプレイ
PC接続・プリンター対応USB
チューニングオプション付きパルサー
ダイナミックDAC : 信号振幅は曲線DACより、パーセンテージまたはdBレベルで計算
DGS/AVG：プローブおよび特殊材料のDGS
AVGダイアグラム
高解像度のA-スキャンとB-スキャン
LEMO-Q9プローブ接続ケーブル， LEMO-Q6プローブ接続ケーブル付属
仕様スキャン範囲：2.5-9999mm、D遅延：-20～ + 3400us、P遅延 ：0.000-750.000、音速：600-16000m/s、帯域幅：0.1-15MHz、垂直直線性の精度：≦2%、水平直線性の精度：≦0.1%、整流：全波整流、半波整流-正、半波整流-負、RF波形(高周波)解像度0.1mm(2.5-100mm)・1mm(100mm-5000mm)測定モードパルスエコー、デュアル、トランスミッションゲイン0-110dBダイナミックレンジ100dB
超音波探傷器TIME1150TIME￥779,800税込￥857,780
1台
10日以内出荷
5.7インチ、VGAカラーTFTディスプレイ
LEMO / BNCプローブコネクタ
DAC、AVG、DGS曲線に対応
A，B2つの高解像度スキャンモード、波形の同時表示
全波整流、半波整流-正、半波整流-負、RF波形(高周波)の4モードプリセット
自動ゲイン調整、欠陥等価計算、ピークメモリ機能
2つの独立したゲートセッティングとアラーム
ゲート測定にエコー振幅、ビームパス、深度、投影を設定可能
フル、ピーク、比較、エンベロープに対応する波形フリーズ機能
50の検出チャネル。すべてのチャネルに個別の検出パラメータとDAC(距離振幅補正)曲線
調整可能な高性能方形波パルス発生器
自動校正機能付きの3つの検出モード(シングルプローブ、デュアルクリスタルプローブ、トランスミッション)
USBインターフェースによるPC接続。ソフトウェア付属(Windows対応)
大容量メモリ、1000波形、4x2000フレームの動的波形図を保存。チャンネル、波形、動的記録の保存、チェックアウト、レビュー機能
印刷可能な欠陥検出レポート
LEMO-Q9プローブ接続ケーブル， LEMO-Q6プローブ接続ケーブル， ストレートビームプローブΦ202.5MHz)，アングルビームプローブ(Φ202.5MHz)付属
リジェクション(1%) : リニア， フルスクリーンの0-80%
サンプリング周波数 80MHz
クロストークリジェクション : ≧80dB
デッドゾーン : ≦10us(トランスミッティングに依存)
ダイナミックレンジ : ≧40dB
インスタント分解能 : ≧32dB
タイムベース・リニアリティ : <±0.2% full screen
Sensitivity leavings : ≧62db
パルサー(V) : スクエアパルス
送信電圧 : 100-400(V) 10Vごとに設定
送信パルス幅 : 75/100-500ns 50nsごとに設定
ダンピング : 50/100/200/500Ω
パルス反復周波数 : 10-1000Hz
ゲート : 2つの独立ゲート
テストポジション : エッジ， 最大値
ゲート測定方法 : エコー振幅，， サウンドパス， デプス， プロジェクション他
フリーズ : 波形， 最大値， 比較， エンベロープ
AVG等価計算 : 欠陥エコーとAVGカーブによる欠陥評価の計算
DAC欠陥評価 : 欠陥エコーとDACカーブによる欠陥等価
ゲートロジック : オフ， 計測， ゲートポジティブウェーブアラーム， ゲートネガティブウェーブアラーム
ゲートアラーム : オフ， 常時， 0.2，0.5，1，2秒ロックホールド
アラーム : オン/オフ可能
データストレージ : 50チャネル， 1000Waveイメージ(980A+20B)， 4x2000ダイナミックウェーブイメージ， 保存・レビュー・リプレイチャネル機能， 全てのデータはPCとフラッシュメモリに保存可能
接続 : USBにてPCと接続可能， フラッシュディスク及びプリンター接続に対応
動作温度 : -10℃～+ 50℃
保管温度 : -20℃～+ 60℃
言語 : 英語/中国語/スペイン語選択可能
プローブソケット : LEMOまたはBNC
バッテリー(mAh) : 2x3.7V 5000mAh
バッテリーの動作時間 : 8時間以上
充電時間(h) : 約8時間
電源アダプタ入力 : 100-240V 50/60Hz
サイズ | 重量 : 177x255x51mm | 1200g
仕様スキャン範囲：0-10000mm、音速：600-16000m/s、P遅延 ：-1.000-750.000us、D遅延：-20～ + 3400us、テストモード ：パルスエコー、デュアルおよびスルートランスミッション、スキャンモード：スキャンとBスキャン、両方を同時に表示、帯域幅：0.5～15MHz、整流：全波整流、半波整流-正、半波整流-負、RF波形(高周波)、垂直直線性の精度：±2%、アンプの分解能：±1dB測定単位mm/inch/usゲイン0～110dB
