磁気・渦電流膜厚計TIME
Fタイプ磁気誘導(鉄)及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式
ゼロ点校正および二点校正
連続測定と単一測定
直接測定とバッチ測定
平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV)
測定基板の自動認識
仕様最小試験面積直径：7mm(F)・5mm(N)、基盤の臨界厚さ：0.5mm(F)・0.3mm(N)寸法(mm)110×50×23測定範囲0-1250um(F)・0-1250um(N)・0-40um(N・銅上のクローム板)質量(g)100電源単4型乾電池2本(別売)測定方式磁気誘導(F)・渦電流(N)最小曲げ半径(mm)凸度1.5(F)・凸度3(N)分解能0.1um測定誤差±(3%H+1) um(F・ゼロ点校正)・±(3%H+1.5) um(Nゼロ点校正)・±{(1-3)%H+1}um(F・2点校正)・±{(1-3)%H+1.5}um(N・2点校正) Hは試験物の厚さ動作湿度(%)20-90強い磁場環境ではない動作温度範囲(℃)0-40内容量1台
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