磁気・渦電流膜厚計TIME
6種類のプローブに対応
コンパクトな設計ながら高精度/高分解能
各種コーティング材の膜厚を測定
F400， F1， F1/90， F10， N1， CN02の6種類のプローブ
連続モード、シングルモードを搭載
直接測定、バッチ測定
平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV)
2種類の校正方法
バックライト付き
仕様測定範囲(um)： 0-400(F400)・0-1250(F1・F1/90度)・0-10000(F10)・0-1250(N1)・0-40(N1・銅上のクローム)・10-200(CNO2)、低域分解能(um)：0.1(F400・F1・F1/90度・N1)・10(F10)・1(CNO2)、1点校正測定精度：± (3%H+1)(F400・F1・F1/90度)・± (3%H+10)(F10)・± (3%H+1.5)(N1)・± (3%H+1)(CNO2)、2点校正測定精度：±[ (1～3) %H+0.7](F400)・±[(1～3)%H+1](F1・F1/90度)・± [(1-3)%H+10](F10)・±[(1-3) %H+1.5](N1)、最小曲率mm：凸面1(F400)・1.5(F1)・平面(F1/90度・CN02)・10(F10)・3(N1)、最小領域の直径mm：Φ3(F400)・Φ7(F1・F1/90度)・Φ40(F10)・Φ5(N1)・Φ7(CN02)、基盤の臨界厚さmm：0.2(F400)・0.5(F1・F1/90度)・2(F10)・0.3(N1)・無制限(CN02)
電源NIMH充電池
測定方式磁気誘導(F400・F1・F1/90度・F10)・渦電流(N1・CNO2)
準拠規格DIN・ISO・ASTM・BS
校正ゼロ調整および基準箔校正
インターフェイスRS232
内容量1台
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