基本確度±0.05%と広範囲な測定条件 (DCおよび40 Hz〜200 kHz, 5 mV〜5 V, 10 μA〜50 mA設定可能) C-D (120 Hz)とESR (100 kHz)などの異なる測定を連続で行う場合、全体の測定スピードが約1/10に向上 (従来機3532-50 比較) コンパレータ, BIN測定(分類機能)搭載 測定時間2msecの高速測定