「面取り 測定」の検索結果

先の尖った剛性の高いステンレスの針を持ち、ハンドルガードの両側が面取処理されたテストプローブ。保護キャップ付。

ETシリーズはミクロン単位の高精度な測定を可能にするため に±0.3μm公差のピンゲージを0.1mmトビに設定しています。挿入しやすいように片側の端面に30°の面取りをしております。

ETシリーズはミクロン単位の高精度な測定を可能にするため に±0.3μm公差のピンゲージを0.1mmトビに設定しています。挿入しやすいように片側の端面に30°の面取りをしております。

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軽く押して弾性的に動作するバネ式ステンレス針を持つテストプローブ。精密なプリント回路に適しています。ハンドルガードは両面面取処理されています。持手部内のΦ4mmソケットは、絶縁スリーブ付きΦ4mmのMULTILAMプラグに対応。保護キャップ付、※プラグとソケットの両方がMULTILAMの場合は接続できません。

ETシリーズはミクロン単位の高精度な測定を可能にするため に±0.3μm公差のピンゲージを0.1mmトビに設定しています。挿入しやすいように片側の端面に30°の面取りをしております。