「磁気プローブ」の検索結果
関連キーワード
仕様最小曲率：凸面1mm、最小領域：Φ3mm、基盤の臨界厚さ：0.2mm
測定方式磁気誘導
分解能0.1um
測定範囲(μm)0-400、0-40(銅上のクロム板)
測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+0.7]um(2点校正)
1本
￥99,980
税込￥109,978
10日以内出荷
仕様最小曲率：平にする、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：無制限
測定方式渦電流
分解能1um
測定範囲(μm)0-200
測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)
1本
￥44,980
税込￥49,478
10日以内出荷
仕様最小曲率：3mm、最小領域：Φ5mm、基盤の臨界厚さ：0.3mm
測定方式渦電流
分解能0.1um
測定範囲(μm)0-1250
測定誤差±(3%H+1.5)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1.5]um(2点校正)
1台
￥31,980
税込￥35,178
10日以内出荷
仕様最小曲率：1.5mm、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm
測定方式磁気誘導
分解能0.1um
測定範囲(μm)0-1250
測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1]um(2点校正)
1本
￥31,980
税込￥35,178
10日以内出荷
仕様最小曲率：10mm、最小領域：Φ40mm、基盤の臨界厚さ：2mm
測定方式磁気誘導
分解能10um
測定範囲(μm)0-10000
測定誤差±(3%H+10)um(1点校正)・±[(1～3)H%+10]um(2点校正)
1本
￥99,980
税込￥109,978
10日以内出荷
仕様最小曲率：平にする、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm
測定方式磁気誘導
分解能0.1um
測定範囲(μm)0-1250
測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1]um(2点校正)
1本
￥169,800
税込￥186,780
10日以内出荷
TIME2510に有線プローブを追加したタイプ
Fタイプ磁気誘導(鉄)及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式
ゼロ点校正および二点校正
連続測定と単一測定
直接測定とバッチ測定
平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV)
測定基板の自動認識
仕様最小試験面積直径：7mm(F)・5mm(N)、基盤の臨界厚さ：0.5mm(F)・0.3mm(N)
寸法(mm)110×50×23
測定範囲0-1250um(F)・0-1250um(N)・0-40um(N・銅上のクローム板)
質量(g)100
電源単4型乾電池2本(別売)
測定方式磁気誘導(F)・渦電流(N)
最小曲げ半径(mm)凸度1.5(F)・凸度3(N)
分解能0.1um
測定誤差±(3%H+1) um(F・ゼロ点校正)・±(3%H+1.5) um(Nゼロ点校正)・±{(1-3)%H+1}um(F・2点校正)・±{(1-3)%H+1.5}um(N・2点校正) Hは試験物の厚さ
動作湿度(%)20-90強い磁場環境ではない
動作温度範囲(℃)0-40
1台
￥119,800
税込￥131,780
10日以内出荷
磁気誘導(鉄)と渦電流(非鉄)の2 つの動作測定方式
用途に応じた6 種類のプローブ
ダイレクトとバッチの2 つの動作モード、連続とシングルの2 つの測 定モード
平均、最大、最小、テスト番号、標準偏差を記録
640 データのメモリ
2 つの校正方法
必要に応じて統計値を印刷するプリンターを内蔵
電池残量低下表示とエラーアラーム
バックライト液晶
寸法(mm)230×86×47
電源充電池内蔵
準拠規格DIN・ISO・ASTM・BS
インターフェースRS232
動作湿度(%)20-90強い磁場環境ではない
動作温度範囲(℃)0-40
1台
￥259,800
税込￥285,780
10日以内出荷
関連キーワード
