マイクロメーター ：「校正証明書」の検索結果
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スピンドルピッチ0.1mmの高精度ねじ加工技術の実現により、従来の0.5mmピッチに対し、1/5の微細送りを可能にしました。
外観形状は従来の標準タイプ(0.5mmピッチ)と互換性を持たせていますので、簡単に交換ができます。
半導体装置のテーブル送り、光学用光軸調整装置の微細送りなどに使用できます。
仕様測定面：ラップ仕上げ
質量(g)10
測定範囲(mm)0～6.5
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.002
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
先端形状球面(SR3)
目盛仕様正目盛
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE：±5
RoHS指令(10物質対応)対応
スピンドルピッチ0.1mmの高精度ねじ加工技術の実現により、従来の0.5mmピッチに対し、1/5の微細送りを可能にしました。
外観形状は従来の標準タイプ(0.5mmピッチ)と互換性を持たせていますので、簡単に交換ができます。
半導体装置のテーブル送り、光学用光軸調整装置の微細送りなどに使用できます。
仕様測定面：ラップ仕上げ
測定範囲(mm)0～6.5
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.002
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
先端形状球面(SR4)
目盛仕様正目盛
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE：±2
RoHS指令(10物質対応)対応
大径シンブルを採用し、細かい位置決め読み取りのできるようにしたマイクロメーターヘッドです。
測定範囲(mm)0～10
目量(mm)0.002
器差(μm)±2
先端形状平面(超硬合金チップ付)
ステム形状ナット付ステム
スピンドルピッチ0.1mmの高精度ねじ加工技術の実現により、従来の0.5mmピッチに対し、1/5の微細送りを可能にしました。
外観形状は従来の標準タイプ(0.5mmピッチ)と互換性を持たせていますので、簡単に交換ができます。
半導体装置のテーブル送り、光学用光軸調整装置の微細送りなどに使用できます。
仕様測定面：ラップ仕上げ
測定範囲(mm)0～6.5
シリーズ148
硬度(測定面)60HRC以上
目量(mm)0.002
表面処理(目盛部)硬質クロムメッキ
先端形状球面(SR4)
目盛仕様正目盛
材質(測定面)合金工具鋼
最大許容誤差(μm)JMPE：±2
RoHS指令(10物質対応)対応
大径シンブルを採用し、細かい位置決め読み取りのできるようにしたマイクロメータヘッドです。
目量(mm)0.002
ステム形状ストレート
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