測定用品 ：「膜厚計プローブ」の検索結果
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仕様最小曲率：凸面1mm、最小領域：Φ3mm、基盤の臨界厚さ：0.2mm
測定方式磁気誘導
分解能0.1um
測定範囲(μm)0-400、0-40(銅上のクロム板)
測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+0.7]um(2点校正)
1本
￥99,980
税込￥109,978
10日以内出荷
仕様最小曲率：10mm、最小領域：Φ40mm、基盤の臨界厚さ：2mm
測定方式磁気誘導
分解能10um
測定範囲(μm)0-10000
測定誤差±(3%H+10)um(1点校正)・±[(1～3)H%+10]um(2点校正)
1本
￥99,980
税込￥109,978
10日以内出荷
。TIME社 磁気・渦電流膜厚計TIME2600/2601用の磁気・渦電流膜厚計プローブです
仕様●測定方式：磁気誘導●測定範囲：0～1250um●分解能：0.1um●測定誤差：±(3%H+1)um(1点校正)、±[(1～3)H%+1]um(2点校正)●最小曲率：平にする●最小領域：Φ7mm●基盤の臨界厚さ：0.5mm
アズワン品番65-8290-48
1個
￥159,800
税込￥175,780
11日以内出荷
仕様最小曲率：1.5mm、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm
測定方式磁気誘導
分解能0.1um
測定範囲(μm)0-1250
測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1]um(2点校正)
1本
￥31,980
税込￥35,178
10日以内出荷
仕様最小曲率：平にする、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm
測定方式磁気誘導
分解能0.1um
測定範囲(μm)0-1250
測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1]um(2点校正)
1本
￥169,800
税込￥186,780
10日以内出荷
仕様最小曲率：3mm、最小領域：Φ5mm、基盤の臨界厚さ：0.3mm
測定方式渦電流
分解能0.1um
測定範囲(μm)0-1250
測定誤差±(3%H+1.5)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1.5]um(2点校正)
1台
￥31,980
税込￥35,178
10日以内出荷
仕様最小曲率：平にする、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：無制限
測定方式渦電流
分解能1um
測定範囲(μm)0-200
測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)
1本
￥44,980
税込￥49,478
10日以内出荷
TIME社 磁気・渦電流膜厚計TIME2600/2601用の磁気・渦電流膜厚計プローブです
仕様●測定方式：磁気誘導●測定範囲：0～1250um●分解能：0.1um●測定誤差：±(3%H+1)um(1点校正)、±[(1～3)H%+1]um(2点校正)●最小曲率：1.5mm●最小領域：Φ7mm●基盤の臨界厚さ：0.5mm
アズワン品番65-8290-49
1個
￥31,980
税込￥35,178
11日以内出荷
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- 測量用品(土木/建設)
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