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3ページ目: 膜厚計
膜厚計とは、塗装されたコーティング剤の厚さを測るための測定器です。本体を壊すことなく測定でき、ひび割れの原因にもなる塗りムラの有無をチェック。先端のセンサーを対象物に押し付けることで計測します。種類は、鉄など磁性金属の下地に使用できる電磁式と、非磁性金属の下地に使用できる渦電流式の2タイプ。使える条件が異なるため、購入前に測定する対象物の素材を調べておきましょう。磁性金属・非磁性金属両用タイプであれば、双方の下地での使用が可能。
ウレタン防水層膜厚計ケツト科学研究所￥289,800税込￥318,780
1個
12日以内出荷
ウレタン防水層(非磁性金属シート敷設のもの)の厚さ測定用の渦電流膜厚計
厚膜測定用モデル(0～12mm)
専用渦電流式プローブ付属
ウレタン防水層から剥離しやすい圧力分散板付属
仕様●測定方式：渦電流式●プローブ：ウレタン防水層膜厚計用プローブ●測定対象：非磁性金属上の絶縁被膜●測定範囲：0～12mm●測定精度：1mm未満/±0.03mm、1mm以上/±3%●分解能：10mm未満/0.01mm、10mm以上/0.1mm●データメモリ数：約8，000点●アプリケーションメモリ：100本●表示方法：デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.01mm)●外部出力：PC(USBまたはRS-232C)●電源：電池1.5V(単3アルカリ)×4●消費電力：130mW(バックライト非点灯時)●電池寿命：100時間(バックライト非点灯時、連続使用)●使用温度範囲：0～40℃●付加機能：各種機能16種●寸法・質量：本体：75(W)×145(D)×31(H)mm、0.34Kg●プローブ：Φ42 ×103 mm、0.17kg●付属品：アルミ素地、圧力分散板、標準板(5枚セット)、電池1.5V(単3アルカリ)×4、ソフトケース、取扱説明書●オプション：標準板(付属品以外の厚さ)、パソコンケーブル、RS-232C-USBケーブル、データ管理ソフト：データロガー LDL-03アズワン品番67-8735-81
電磁・渦電流式膜厚計 デュアルタイプ膜厚計 プローブ付きサンコウ電子￥299,800税込￥329,780
1セット
6日以内出荷
本体SWT-NEO 両用プローブSFN-325のセット鉄・非鉄金属素地の膜厚測定が可能鉄・非鉄金属素地の自動判別
仕様●測定方式：電磁誘導式・渦電流式(両用)●測定範囲：電磁式/0～3.0mm、渦電流式/0～2.5mm●表示分解能：0.1μm～アズワン品番67-2390-55
SWT-NEO専用 非鉄用 渦電流式標準プローブサンコウ電子￥119,800税込￥131,780
1式
6日以内出荷
非鉄金属素地上の膜厚測定用標準プローブ幅広い測定域を確立
仕様●測定方式：渦電流式●測定範囲：0～2.0mm●表示分解能：0.1μm～●プローブ：1点定圧接触式●サイズ：Φ15×47mmアズワン品番67-2390-50
SWT-NEO専用 鉄用 電磁式標準プローブサンコウ電子￥89,980税込￥98,978
1式
6日以内出荷
鉄素地上の膜厚測定用標準プローブ幅広い測定域を確立
仕様●測定方式：電磁誘導式●測定範囲：0～2.5mm●表示分解能：0.1μm～●プローブ：1点定圧接触式●サイズ：Φ15×47mmアズワン品番67-2390-43
SWT-NEO専用 鉄用 電磁式伸縮プローブサンコウ電子￥249,800税込￥274,780
1式
6日以内出荷
鉄素地用の伸縮プローブ高所・床・パイプ内面・天井・造船など
仕様●測定方式：電磁誘導式●測定範囲：0～2.5mm●プローブ：1点定圧接触式●サイズ：24×27×57mm、全長/550～1550mm(伸縮式)アズワン品番67-2390-46
SWT-NEO専用 鉄用 電磁式狭小部用ペンシルプローブサンコウ電子￥149,800税込￥164,780
1式
6日以内出荷
鉄素地用狭小部プローブ狭い箇所・小さい部位の膜厚測定が可能です
仕様●測定方式：電磁誘導式●測定範囲：0～0.6mm●表示分解能：0.1μm～●プローブ：1点定圧接触式●サイズ：Φ5.6×92.2mm●狭小部用アズワン品番67-2390-45
電磁・渦電流式膜厚計 本体 SWTシリーズサンコウ電子￥199,800税込￥219,780
1台
6日以内出荷
膜厚計本体のみ測定用途に合わせてプローブの選択が可能統計演算機能付きチルトスタンド装備USB接続でPCへデータ転送が可能
仕様●サイズ：72(W)×32(H)×156(D)mm●電源：単3×2本/ACアダプターの2電源●200g電池含むアズワン品番67-2390-40
電磁式膜厚計SMART SENSOR(US)￥47,980～税込￥52,778～
1個
8日以内出荷
測定範囲0～1800μm質量(g)147電源9V 角乾電池校正7点：あり測定原理磁気誘導式動作温度0℃～40℃(強磁性なし)オートパワーオフありバックライトLCD：あり
SWT-NEO専用 鉄用 電磁式狭小部用 L型プローブサンコウ電子￥219,800税込￥241,780
1式
6日以内出荷
小径パイプ内などに最適狭小窪み・壁面などの膜厚測定
仕様●測定方式：電磁誘導式●測定範囲：0～0.6mm●表示分解能：0.1μm～●プローブ：1点定圧接触式●サイズ：8.1×13.5×118.5mm●形状：L型アズワン品番67-2390-49
TIME2132用 超音波厚さ計プローブTIME￥96,980税込￥106,678
1個
11日以内出荷
TIME社 超音波厚さ計TIME2134用のオプションプローブ(高浸透性)です。
仕様●測定範囲：5.0～40.0mm(鋳鉄)●接触面外形：22mm●周波数：2MHz●試験物表面温度範囲：-10～60℃アズワン品番65-8290-35
SWT-NEO専用 鉄用 電磁式標準L型プローブサンコウ電子￥119,800税込￥131,780
1式
5日以内出荷
パイプ内面などに最適幅広い測定域を確立
仕様●測定方式：電磁誘導式●測定範囲：0～2.5mm●表示分解能：0.1μm～●プローブ：1点定圧接触式●サイズ：18×22×67mm●形状：L型アズワン品番67-2390-44
SWT-NEO専用 非鉄用 渦電流式標準L型プローブサンコウ電子￥149,800税込￥164,780
1式
6日以内出荷
非鉄素材測定用管内面狭い場所
仕様●測定方式：渦電流式●測定範囲：0～2.0mm●サイズ：18×23×67●タイプ：L型アズワン品番67-2390-51
TIME260x用 磁気・渦電流膜厚計プローブTIME￥31,980税込￥35,178
1個
11日以内出荷
TIME社 磁気・渦電流膜厚計TIME2600/2601用の磁気・渦電流膜厚計プローブです
仕様●測定方式：磁気誘導●測定範囲：0～1250um●分解能：0.1um●測定誤差：±(3%H+1)um(1点校正)、±[(1～3)H%+1]um(2点校正)●最小曲率：1.5mm●最小領域：Φ7mm●基盤の臨界厚さ：0.5mmアズワン品番65-8290-49
SWT-NEO専用 鉄用 電磁式厚膜プローブ SFeシリーズサンコウ電子￥169,800税込￥186,780
1式
6日以内出荷
厚膜専用タイプライニング・防水塗装・ウレタン・耐火塗料の最適
仕様●測定方式：電磁誘導式●測定範囲：0～10mm●プローブ：1点定圧接触式●サイズ：Φ20.4×47.1mmアズワン品番67-2390-47
TIME260x用 磁気・渦電流膜厚計プローブTIME￥159,800税込￥175,780
1個
11日以内出荷
TIME社 磁気・渦電流膜厚計TIME2600/2601用の磁気・渦電流膜厚計プローブです
仕様●測定方式：磁気誘導●測定範囲：0～1250um●分解能：0.1um●測定誤差：±(3%H+1)um(1点校正)、±[(1～3)H%+1]um(2点校正)●最小曲率：平にする●最小領域：Φ7mm●基盤の臨界厚さ：0.5mmアズワン品番65-8290-48
電磁・渦電流式膜厚計 本体 SWTシリーズサンコウ電子￥259,800税込￥285,780
1台
6日以内出荷
膜厚計本体のみ測定用途に合わせてプローブの選択が可能統計演算機能付きチルトスタンド装備USB接続でPCへデータ転送が可能
仕様●サイズ：72(W)×32(H)×156(D)mm●電源：単3×2本/ACアダプターの2電源●200g電池含むアズワン品番67-2390-41
SWT-NEO専用 鉄用 電磁式厚膜プローブ SFeシリーズサンコウ電子￥199,800税込￥219,780
1式
6日以内出荷
厚膜専用タイプライニング・防水塗装・ウレタン・耐火塗料の最適
仕様●測定方式：電磁誘導式●測定範囲：0～20mm●プローブ：1点定圧接触式●サイズ：Φ35×55mmアズワン品番67-2390-48
渦電流式膜厚計 渦電流式標準プローブ付きサンコウ電子￥239,800税込￥263,780
1セット
6日以内出荷
本体SWT-NEO 電磁式プローブSNFe-2.0のセット非鉄金属素地の膜厚測定が可能
仕様●測定方式：渦電流式●測定範囲：0～2.0mm●表示分解能：0.1μm～アズワン品番67-2390-57
L-500用渦電流式プローブケツト科学研究所￥169,800税込￥186,780
1本
8日以内出荷
膜厚計L-500用新開発プローブ渦電流式プローブ(非磁性金属素地用)アプリケーションメモリを50本まで保存L字型
測定方式渦電流式測定精度50μm未満±1.0μm/50μm以上±2%対応機種膜厚計 L-500測定対象非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲(μm)0 ～ 1200または47.0mils
L-500用電磁式プローブケツト科学研究所￥139,800税込￥153,780
1本
8日以内出荷
膜厚計L-500用新開発プローブ電磁式プローブ(磁性金属素地用)アプリケーションメモリを50本まで保存L字型
測定方式電磁誘導式測定精度15μm未満±0.3μm/15μm以上1000μm未満±2%/1000μm以上±3%対応機種膜厚計 L-500測定対象磁性金属上の非磁性被膜測定範囲(μm)0 ～ 2500または99.0mils
渦電流プローブケツト科学研究所￥139,800税込￥153,780
1本
3日以内出荷
膜厚計L-500用新開発プローブ 渦電流式プローブ(非磁性金属素地用) アプリケーションメモリを50本まで保存
測定方式渦電流式測定精度50未満±1.0μm/50以上±2%対応機種膜厚計 L-500測定対象非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲(μm)0 ～ 1200または47.0mils
L-500用電磁式プローブケツト科学研究所￥239,800税込￥263,780
1本
8日以内出荷
膜厚計L-500用新開発プローブ電磁式プローブ(磁性金属素地用)アプリケーションメモリを50本まで保存パイプ内面測定用
測定方式電磁誘導式測定精度15μm未満±0.3μm/15μm以上1000μm未満±2%/1000μm以上±3%対応機種膜厚計 L-500測定対象磁性金属上の非磁性被膜測定範囲(μm)0 ～ 2500または99.0mils
プリンタ内蔵型膜厚計ケツト科学研究所￥319,800税込￥351,780
1台
6日以内出荷
プリンタ内蔵の膜厚計最上位モデル ブロック/グループ統計計算機能
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合：15μm未満：±0.3μm、15μm以上1、000μm：±2%、 1、000μm以上：±3%/渦電流式(HP-100)の場合：50μm未満：±1.0μm、50μm以上：±2%分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合：0～2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合：0～1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付ケツト科学研究所￥479,800～税込￥527,780～
1セット
14日以内出荷
膜厚計L-500とプローブのセット品
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合：15μm未満：±0.3μm、15μm以上1、000μm：±2%、 1、000μm以上：±3%/渦電流式(HP-100)の場合：50μm未満：±1.0μm、50μm以上：±2%分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合：0～2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合：0～1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ校正証明書付き
プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付ケツト科学研究所￥429,800～税込￥472,780～
1セット
6日以内出荷
膜厚計L-500とプローブのセット品
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合：15μm未満：±0.3μm、15μm以上1、000μm：±2%、 1、000μm以上：±3%/渦電流式(HP-100)の場合：50μm未満：±1.0μm、50μm以上：±2%分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合：0～2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合：0～1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
電磁膜厚計(本体のみ)サンコウ電子￥259,800～税込￥285,780～
1台ほか
5日以内出荷から14日以内出荷
測定用途に合わせた接続プローブの選択が可能。
LCD画面上に操作手順をガイド表示。
大容量の測定値メモリ(NEO2/20000点、NEO3/40000点)
検量線登録による簡単呼び出し測定
上下限値設定、統計演算機能内蔵。
USB接続でパソコンへのデータ転送が可能。
特定小電力無線出力内蔵(SWT-NEO3のみ)
チルトスタンド機能。
仕様検量線メモリ:100本、測定値メモリ:40000測定範囲接続プローブ(別売)により異なる質量(g)約200(電池含む)寸法H(mm)30電源単3アルカリ乾電池(1.5V)×2(連続使用最大約25時間/使用条件により異なる)、ACアダプタ(オプション)、オートパワーオフ機能付使用温度(℃)0～40(結露しないこと)寸法D(mm)156表示方式グラフィックLCD寸法W(mm)72校正(検量線)2点校正式RoHS指令(10物質対応)対応データ転送USB、特定小電力無線
耐食性膜厚計アミッタリ￥88,980税込￥97,878
1個
4日以内出荷
99データ保存可能なFプローブ、マルチボタンの耐食性膜厚計
用途膜厚測定測定範囲(mm)0～12(他の範囲も指定可)分解能0.01mm(1.0mm以下)/0.1mm(1mm以上)精度±1～3%n 又は 0.2mm(いずれか大きい方)寸法(mm)140×70×30電源1.5V 単4電池 × 4質量(g)130(電池無し)セット内容本体 Fプローブ、校正用フォイル 10枚セット、標準板(鉄)、キャリーケース、操作マニュアル
統計膜厚計 センサー一体型アミッタリ￥58,980税込￥64,878
1個
4日以内出荷
99データ保存可能な、センサー・一体型の統計膜厚計。膜にダメージを与えず計測可能。大きなプローブで安定性が高く反復性が良好です。
用途膜厚測定測定範囲(μm)0～1250/0～50mil(他の範囲も指定可)分解能0.1 μm(0～99.9μm)/1 μm(100μm以上)精度±1～3%n 又は 2.5 μm 又は 0.1 mil(いずれか大きい方)計測範囲最小6mm表面Fタイプ(磁性体上の非磁性体膜厚):コンベックス 1.5mm/コンケーブ 25mm、NF タイプ(非磁性体上の非磁性体膜厚):コンベックス 3mm/コンケーブ 50mm寸法(mm)120×63×25電源1.5V 単4電池 × 2質量(g)90(電池無し)セット内容本体、リストリング、校正用フォイル 5枚セット、標準板(鉄)、標準板(アルミニウム)、キャリーケース、操作マニュアル
膜厚計 センサー一体型アミッタリ￥49,980税込￥54,978
1個
4日以内出荷
センサー・一体型の膜厚計。膜にダメージを与えず計測可能。大きなプローブで安定性が高く反復性が良好です。
用途膜厚測定測定範囲(μm)0～1250/0～50mil(他の範囲も指定可)分解能0.1 μm(0～99.9μm)/1 μm(100μm以上)精度±1～3%n 又は 2.5 μm 又は 0.1 mil(いずれか大きい方)計測範囲最小6mm表面Fタイプ(磁性体上の非磁性体膜厚):コンベックス 1.5mm/コンケーブ 25mm、NF タイプ(非磁性体上の非磁性体膜厚):コンベックス 3mm/コンケーブ 50mm寸法(mm)120×63×25電源1.5V 単4電池 × 2質量(g)90(電池無し)セット内容本体、リストリング、校正用フォイル 5枚セット、標準板(鉄)、標準板(アルミニウム)、キャリーケース、操作マニュアル
磁気・渦電流膜厚計プローブN1TIME￥31,980税込￥35,178
1台
10日以内出荷
仕様最小曲率：3mm、最小領域：Φ5mm、基盤の臨界厚さ：0.3mm測定方式渦電流分解能0.1um測定範囲(μm)0-1250測定誤差±(3%H+1.5)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1.5]um(2点校正)
磁気・渦電流膜厚計プローブF400TIME￥99,980税込￥109,978
1本
10日以内出荷
仕様最小曲率：凸面1mm、最小領域：Φ3mm、基盤の臨界厚さ：0.2mm測定方式磁気誘導分解能0.1um測定範囲(μm)0-400、0-40(銅上のクロム板)測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+0.7]um(2点校正)
磁気・渦電流膜厚計プローブF10TIME￥99,980税込￥109,978
1本
10日以内出荷
仕様最小曲率：10mm、最小領域：Φ40mm、基盤の臨界厚さ：2mm測定方式磁気誘導分解能10um測定範囲(μm)0-10000測定誤差±(3%H+10)um(1点校正)・±[(1～3)H%+10]um(2点校正)
磁気・渦電流膜厚計プローブF1/90TIME￥169,800税込￥186,780
1本
10日以内出荷
仕様最小曲率：平にする、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm測定方式磁気誘導分解能0.1um測定範囲(μm)0-1250測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1]um(2点校正)
磁気・渦電流膜厚計プローブF1TIME￥31,980税込￥35,178
1本
10日以内出荷
仕様最小曲率：1.5mm、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm測定方式磁気誘導分解能0.1um測定範囲(μm)0-1250測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1]um(2点校正)
磁気・渦電流膜厚計プローブCN02TIME￥44,980税込￥49,478
1本
10日以内出荷
仕様最小曲率：平にする、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：無制限測定方式渦電流分解能1um測定範囲(μm)0-200測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)
磁気・渦電流膜厚計TIMETIME￥229,800税込￥252,780
1台
10日以内出荷
小型軽量
Fタイププローブを搭載、金属ベースの非磁性コーティングに対応
連続測定・単一測定のどちらにも対応
直接測定と分類ストレージ測定
平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ(NO)および標準偏差(S.DEV)
測定システムエラー校正
仕様最小試験面積直径：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm寸法(mm)203×92×52測定範囲0-1500um質量(g)400電源リチウム充電池測定方式磁気誘導 F1.5最小曲げ半径(mm)凸度1.5分解能0.1um測定誤差±(1%H+1)um動作湿度(%)0-75強い磁場環境ではない動作温度範囲(℃)0-40
磁気・渦電流膜厚計TIMETIME￥259,800税込￥285,780
1台
10日以内出荷
磁気誘導(鉄)と渦電流(非鉄)の2 つの動作測定方式
用途に応じた6 種類のプローブ
ダイレクトとバッチの2 つの動作モード、連続とシングルの2 つの測 定モード
平均、最大、最小、テスト番号、標準偏差を記録
640 データのメモリ
2 つの校正方法
必要に応じて統計値を印刷するプリンターを内蔵
電池残量低下表示とエラーアラーム
バックライト液晶
寸法(mm)230×86×47電源充電池内蔵準拠規格DIN・ISO・ASTM・BSインターフェースRS232動作湿度(%)20-90強い磁場環境ではない動作温度範囲(℃)0-40
磁気・渦電流膜厚計TIMETIME￥149,800税込￥164,780
1台
4日以内出荷
6種類のプローブに対応
コンパクトな設計ながら高精度/高分解能
各種コーティング材の膜厚を測定
F400， F1， F1/90， F10， N1， CN02の6種類のプローブ
連続モード、シングルモードを搭載
直接測定、バッチ測定
平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV)
2種類の校正方法
バックライト付き
仕様測定範囲(um)： 0-400(F400)・0-1250(F1・F1/90度)・0-10000(F10)・0-1250(N1)・0-40(N1・銅上のクローム)・10-200(CNO2)、低域分解能(um)：0.1(F400・F1・F1/90度・N1)・10(F10)・1(CNO2)、1点校正測定精度：± (3%H+1)(F400・F1・F1/90度)・± (3%H+10)(F10)・± (3%H+1.5)(N1)・± (3%H+1)(CNO2)、2点校正測定精度：±[ (1～3) %H+0.7](F400)・±[(1～3)%H+1](F1・F1/90度)・± [(1-3)%H+10](F10)・±[(1-3) %H+1.5](N1)、最小曲率mm：凸面1(F400)・1.5(F1)・平面(F1/90度・CN02)・10(F10)・3(N1)、最小領域の直径mm：Φ3(F400)・Φ7(F1・F1/90度)・Φ40(F10)・Φ5(N1)・Φ7(CN02)、基盤の臨界厚さmm：0.2(F400)・0.5(F1・F1/90度)・2(F10)・0.3(N1)・無制限(CN02)電源NIMH充電池測定方式磁気誘導(F400・F1・F1/90度・F10)・渦電流(N1・CNO2)準拠規格DIN・ISO・ASTM・BS校正ゼロ調整および基準箔校正インターフェイスRS232
『厚さ測定』には他にこんなカテゴリがあります
- 厚さ計
- 膜厚計
