厚さ測定 ：「板 厚 計」の検索結果

標準二振動探触子5PΦ10付属 簡単操作で各種素材金属及び非金属材料の厚さを測定 自動ゼロ校正、自動システムエラー修正 現在値と最小厚さを表示(切り替え可能) 上限・下限値音声アラーム 500件データ保存 2点校正 表示分解能 : 0.1mm/0.01mm選択 測定単位変換 バックライト付きディスプレイ

TIME2190は、パルス反射原理で探触子が検査対象を通過する超音波パルスを送信し、対象測定物の底面で反射した底面エコーを受信します。超音波が往復する時間によって厚さを測定する方法をパルス反射法といいます。 TIME2190は、金属、プラスチック、複合材料、ガラス繊維、セラミックスおよびガラスなどほとんどの材料の厚さを非破壊的に測定することができます。 石油やガス、化学、冶金、造船、航空宇宙などの様々なプレート、パイプ、ボイラー、船舶の肉厚と腐食を検査することはできます。 付属 : 5MHz二振動子型探触子 Aスキャン・Bスキャン機能 一振動子型探触子および二振動子型探触子に適した複数タイプのプローブに適合 不要な反射波をクラッターとして抑制 エコーtoエコー測定対応 試験物の音速および探触子のゼロ点校正機能 信号損失(LOS)の場合には、厚さ表示またはブランク厚さ表示を保持する機能 波形フリーズ機能 波形表示の手動ズームと表示範囲コントロール 自動信号増幅機能(測定されたエコーの中心に表示) 拡張ブランク エコーtoエコーモードで最初に受信したエコー後のブランク ゲイン調整範囲0-99dB Bスキャン測定モードでにフリーズ機能より最大値、最小値、現在値を表示 WIFI、USBインターフェース 上限・下限設定が可能なアラーム機能 大容量保存機能、合計50万件の大容量データストレージ □探触子測定範囲 5MHz二振動子型プローブ : 1.2-225.0mm(標準モード) 3.0-100.0mm(EtoEモード) 誤差H<10mm，±0.05mm， H≧10mm，±(0.01+0.5%H)mm 5MHz一振動子型プローブ(別売) : 5.0-225.00mm(標準モード)， 5.0-100.00mm(EtoEモード) 誤差 : H<10mm，±0.05 mm | H≧10mm，±(0.01+0.5%H)mm TSTU32 2MHz二振動子型プローブ(別売) : 3.0-300.00mm(標準モードのみ) 誤差 : H<10mm，±0.1 mm | H≧10mm，±(0.01+1%H)mm 1MHz一振動子型プローブ(別売) : 10.-500.00mm(標準モードのみ) 誤差 : H<10mm ±0.1 mm | H≧10mm，±(0.01+1%H) mm 15MHz一振動子型遅延材付き探触子(ディレイプローブ)(別売) : 3.0mm-20.0m(界面toEモード)， 0.25 mm-10.0mm(EtoEモード) 誤差 : H<10mm，±0.05 mm | H≧10mm，±(0.01+0.5%H)mm 消費電力 : 250mA以下(WiFi未使用、バックライト低、4.5V) サイズ | 重量 : 187mm×87 mm×43 mm | 360g 準拠規格 : Q/HD SDF0001-2014超音波厚さ計， JJF 1126-2004超音波厚さ計校正規則， GB/T 6587 電子計測器の一般規則 別売オプション 標準テストブロック 1MHz一振動子型探触子 TSTU32 2MHz 二振動子型探触子 5MHz一振動子型探触子 15MHz一振動子型遅延材付き探触子(ディレイ型プローブ) ZW5P 高温探触子

磁気誘導(鉄)と渦電流(非鉄)の2 つの動作測定方式 用途に応じた6 種類のプローブ ダイレクトとバッチの2 つの動作モード、連続とシングルの2 つの測 定モード 平均、最大、最小、テスト番号、標準偏差を記録 640 データのメモリ 2 つの校正方法 必要に応じて統計値を印刷するプリンターを内蔵 電池残量低下表示とエラーアラーム バックライト液晶

TIME2510に有線プローブを追加したタイプ Fタイプ磁気誘導(鉄)及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式 ゼロ点校正および二点校正 連続測定と単一測定 直接測定とバッチ測定 平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定基板の自動認識

6種類のプローブに対応 コンパクトな設計ながら高精度/高分解能 各種コーティング材の膜厚を測定 F400， F1， F1/90， F10， N1， CN02の6種類のプローブ 連続モード、シングルモードを搭載 直接測定、バッチ測定 平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 2種類の校正方法 バックライト付き

Fタイプ磁気誘導(鉄)及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式 ゼロ点校正および二点校正 連続測定と単一測定 直接測定とバッチ測定 平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定基板の自動認識