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【レンタル】デュアルタイプ膜厚計(校正書付)ケツト科学研究所￥5,598～税込￥6,158～
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小型ボディに多機能を凝縮
デュアルタイプ膜厚計 LZ-370は、磁性体上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です。多様な素材、多様な被膜を扱う現場用として最適な膜厚計です。
セット内容本体、キャリングケース、Feプローブ、NFeプローブ、標準板、標準板ケース、鉄素地、アルミ素地、プローブアダプタ、データ管理ソフト(CD-R)、パソコンケーブル(RS-232C)、RS-232C USB変換器、収納ケース寸法(mm)75(W)×145(D)×31(H)質量(kg)0.34測定範囲電磁誘導式：0～2500μmまたは99.0mils、渦電流式：0～1200μmまたは47.0mils電源単3アルカリ乾電池4本測定方式電磁誘導式/渦電流式兼用測定精度50μm未満：±1μm、50μm以上1000μm未満：±2%、1000μm 以上：±3%分解能100μm未満：0.1μm、100μm以上：1μm測定対象磁性金属上の非磁性被膜、非磁性金属上の絶縁被膜動作温度範囲(℃)0～40℃
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