半導体材料・デバイスの評価 第3版

半導体材料・デバイスの評価 第3版 シーエムシー出版

抵抗率キャリア密度とドーピング密度接触抵抗とショットキー障壁直列抵抗、チャネルの長さと幅、しきい値電圧欠陥の密度と準位酸化膜および界面にトラップされた電荷、酸化膜の厚さキャリアの寿命移動度電荷のプローブ測定光学的評価法〔ほか〕

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電子
通信
分類専門 判型A5 ページ数583 著者名ディ-タ-・K.シュロゥダ- 嶋田恭博 初版年月2012/05 内容量1冊
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製品の安全データシート(SDS)や有害物質使用制限に関するデータ(RoHS)等の書面が必要ですがどうすれば良いですか。
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お手数ですが下記URLのお問合せフォームよりご依頼ください。
お問合せ種類 *必須の中から必要な書類をお選びご依頼ください。

https://help.monotaro.com/app/ask

書類名)
1:SDS(MSDS)
2:RoHS(2)
3:非該当証明書
4:ChemSHERPA
5:その他(ミルシート・出荷証明書)
2022-04-07

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