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単結晶のおすすめ人気ランキング
2025/08/11更新274件の「単結晶」商品から売れ筋のおすすめ商品をピックアップしています。当日出荷可能商品も多数。「単結晶ダイヤ」、「ダイヤモンド」、「単結晶ダイヤモンド」などの商品も取り扱っております。
汎用的な成膜用基板として使用されています。
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
抵抗値
0.1～100Ω・cm
製造方法
CZ法
位置
【OF】110
方位
【面】100
各種成膜用基板として使用されています。
寸法(mm)
10×10×0.5
研磨内容
片面鏡面
材質(基板)
CaF2
耐食性、耐熱性にすぐれ、電子部品、各種セラミックス、新素材などの生産・研究開発用に幅広く使用されています。
厚さ(mm)
2.5
化学組成
Al2O3 99.6%
耐熱温度(℃)
約1800
材質
アルミナ99.6%
色
白
使用済みシリコンウェハを再生加工して、再度プロセスに使用できるレベルにまで再生したシリコンウェハです。実験用、教育用など様々な用途に、少量からご提供します。
用途製造プロセス用、研究開発用、実験用、教育用
抵抗値
1-100Ω・cm
仕様
パーティクル：不問
寸法(mm)
10×10×0.525
タイプ
ノンドープ
研磨内容
片面鏡面
超電導用基板などとして使用されています。
寸法(mm)
10×10×0.5
材質(基板)
MgO
方位
(100)
天然白雲母です。成膜用基板やAFM観察用などに使用されています。
材質(基板)
天然マイカ
研磨内容
劈開
FT-IR・Raman・UV/Visible用窓板(光学結晶)です。
厚さ(mm)
3
直径(Φmm)
32
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
仕様
(面方位)100、(OF位置)110、パーティクル不問、多様な形状加工と表面処理が可能です(例：ざぐり加工、穴あけ加工、酸化膜付きウェハー)
抵抗値
0.1～100Ω・cm※低抵抗：≦0.02Ω・cm、高抵抗：≧500Ω・cm
製造方法
CZ法
KBrの結晶をカットしたプレートです。パウダーのように圧し潰す手間がかかりません。試料を2枚のKBrプレートで挟みプレスするだけで錠剤が完成します。
材質
KBr
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様
(パーティクル)不問、(製造)CZ
型
P型(導電型)
サイズ
4インチ
直径(Φmm)
100±0.5
グレード
ダミー(モニター)
厚さ(μm)
525±25
仕上
片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値
≧1Ωcm
方位
100(面)
1枚
￥6,998
税込￥7,698
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様
(パーティクル)不問、(製造)CZ
型
P型(導電型)
サイズ
8インチ
直径(Φmm)
200±0.5
グレード
ダミー(モニター)
厚さ(μm)
725±25
仕上
片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ
抵抗値
≧1Ωcm
方位
100(面)
1枚
￥8,998
税込￥9,898
当日出荷
高強度で優れた耐熱衝撃抵抗であり、非電気絶縁体のセラミックです。
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様
(パーティクル)不問、(製造)CZ
型
P型(導電型)
サイズ
6インチ
直径(Φmm)
150±0.5
グレード
ダミー(モニター)
厚さ(μm)
625±25
仕上
片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値
≧1Ωcm
方位
100(面)
1枚
￥7,998
税込￥8,798
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様
(パーティクル)不問、(製造)CZ
型
P型(導電型)
サイズ
2インチ
直径(Φmm)
50±0.5
グレード
ダミー(モニター)
厚さ(μm)
280±25
仕上
片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値
≧1Ωcm
方位
100(面)
1枚
￥7,798
税込￥8,578
当日出荷
錠剤法などFT-IR透過測定時の試料作製用KBr錠です。
材質
臭化カリウム(KBr)
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。