ウェハー/特殊ケース :「方位」の検索結果
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ウエハーケース梱包の12インチシリコンウエハーです。P型、両面ミラー、ノッチ(方位)不問、面方位(100)、ダストフリー品です。標準納期は1~2カ月となります。
用途研究開発・ダミー用など
仕様面方位:-100
その他記載なき事項不問
サイズ12インチ
タイプP、面状態:両面ミラー
直径(Φ)300±0.2
厚さ(μm)(標準)775±25
抵抗値不問
方位ノッチ:不問
1箱
¥229,800
税込¥252,780
45日以内出荷
ウエハーケース梱包の12インチシリコンウエハーです。P型、両面ミラー、ノッチ<110>、面方位(100)、ダストフリー品です。標準納期は1~2カ月となります。
用途研究開発・ダミー用など
仕様面方位:-100
その他記載なき事項不問
サイズ12インチ
タイプP、面状態:両面ミラー
直径(Φ)300±0.2
厚さ(μm)(標準)775±25
抵抗値不問
方位ノッチ:<110>
1箱
¥239,800
税込¥263,780
45日以内出荷
超電導体薄膜基板として使用されています。
寸法(mm)10×10×0.5
アズワン品番66-0002-99
方位-100
研磨片面鏡面
1枚
¥38,980
税込¥42,878
6日以内出荷
ウエハーケース梱包の12インチシリコンウエハーです。P型、両面ミラー、ノッチ不問、面方位不問、ダストフリー品です。
用途研究開発・ダミー用など
仕様面方位:不問
その他記載なき事項不問
サイズ12インチ
タイプP、面状態:両面ミラー
直径(Φ)300±0.2
厚さ(μm)(標準)775±25
抵抗値不問
方位ノッチ:不問
1箱
¥189,800
税込¥208,780
10日以内出荷
高純度材料を用いたガラスを少量からご提供、方位(切断角度)、OF方位角度公差、厚み公差をより小さく高精度に加工することができ、エッチングでの正確な溝形成が可能となります。多様な形状加工と表面処理が可能です(例:ざぐり加工、穴あけ加工、酸化膜付きウェハー)。ご希望の比抵抗率、ウェハー厚みに合わせた対応が可能です。※本製品は半導体向けの結晶材を使用し製造加工しておりますが、材料純度に関する証明等に対応できるものではありません。
高純度材料を用いたガラスを少量からご提供、方位(切断角度)、OF方位角度公差、厚み公差をより小さく高精度に加工することができ、エッチングでの正確な溝形成が可能となります。多様な形状加工と表面処理が可能です(例:ざぐり加工、穴あけ加工、酸化膜付きウェハー)。ご希望の比抵抗率、ウェハー厚みに合わせた対応が可能です。※本製品は半導体向けの結晶材を使用し製造加工しておりますが、材料純度に関する証明等に対応できるものではありません。
高純度材料を用いたガラスを少量からご提供、方位(切断角度)、OF方位角度公差、厚み公差をより小さく高精度に加工することができ、エッチングでの正確な溝形成が可能となります。多様な形状加工と表面処理が可能です(例:ざぐり加工、穴あけ加工、酸化膜付きウェハー)。ご希望の比抵抗率、ウェハー厚みに合わせた対応が可能です。※本製品は半導体向けの結晶材を使用し製造加工しておりますが、材料純度に関する証明等に対応できるものではありません。
高純度材料を用いたガラスを少量からご提供、方位(切断角度)、OF方位角度公差、厚み公差をより小さく高精度に加工することができ、エッチングでの正確な溝形成が可能となります。多様な形状加工と表面処理が可能です(例:ざぐり加工、穴あけ加工、酸化膜付きウェハー)。ご希望の比抵抗率、ウェハー厚みに合わせた対応が可能です。※本製品は半導体向けの結晶材を使用し製造加工しておりますが、材料純度に関する証明等に対応できるものではありません。
使用済みシリコンウェハを再生加工して、再度プロセスに使用できるレベルにまで再生したシリコンウェハです。実験用、教育用など様々な用途に、少量からご提供します。
用途製造プロセス用、研究開発用、実験用、教育用
抵抗値1-100Ω・cm
仕様パーティクル:不問
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ4インチ
直径(Φmm)100±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)525±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥6,998
税込¥7,698
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ8インチ
直径(Φmm)200±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)725±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥8,998
税込¥9,898
当日出荷
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
仕様(面方位)100、(OF位置)110、パーティクル不問、多様な形状加工と表面処理が可能です(例:ざぐり加工、穴あけ加工、酸化膜付きウェハー)
抵抗値0.1~100Ω・cm※低抵抗:≦0.02Ω・cm、高抵抗:≧500Ω・cm
製造方法CZ法
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ6インチ
直径(Φmm)150±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)625±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥7,998
税込¥8,798
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ2インチ
直径(Φmm)50±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)280±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥7,798
税込¥8,578
当日出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦50、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ4インチ
直径(Φmm)100±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)525±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1箱(25枚)
¥89,980
税込¥98,978
当日出荷
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
抵抗値0.1~100Ω・cm
製造方法CZ法
位置【OF】110
方位【面】100
国内製造のGaAsウエハーです。ただし、製造年月は不問となります。
用途研究開発・ダミー用
仕様TTV:不問(また≦6.9μm)、WARP(≦):不問(または6)、面方位:100
その他メーカー保証無し、および記載なきスペックは不問
直径(Φmm)100.0±0.3
タイプ半絶縁
厚さ(μm)625±25
仕上両面ミラー
抵抗値(Ω)1~50×107/cm
1枚
¥17,980
税込¥19,778
欠品中
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用 仕様0.2μm≦30 サイズ12インチ 直径(Φmm)300±0.2 タイプ製造:CZ、導電型:P型 グレードダミー(モニター)
直径(Φmm)300±0.2
タイプ製造:CZ、導電型:P型
グレードダミー(モニター)
仕上Vノッチ、両面ミラー
方位100(面)
汎用的な成膜用基板として使用されています。
サイズΦ2インチ×0.43mm
精度方位:(0001)±0.5°
材質(基板)サファイア基板
アズワン品番3-4953-17
方位C(0001)、面内:[11-20] オリフラ付
研磨片面鏡面
1枚
¥12,900
税込¥14,190
6日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)
仕様導電型:P型、製造:CZ
サイズ6インチ
直径(Φmm)150±0.5
厚さ(μm)625±25
仕上熱酸化膜(両面成膜)、1,000ű10%、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位面:100
1箱(25枚)
¥139,800
税込¥153,780
9日以内出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)
仕様パーティクル、その他:不問、導電型:P型、製造:CZ
サイズ3インチ
直径(Φmm)76±0.5
厚さ(μm)380±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位面:100
1枚
¥6,498
税込¥7,148
9日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦20、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ6インチ
直径(Φmm)150±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)625±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1箱(25枚)
¥109,800
税込¥120,780
当日出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ8インチ
直径(Φmm)200±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)725±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1箱(25枚)
¥139,400
税込¥153,340
7日以内出荷
平坦な劈開面を利用してSTM (走査トンネル顕微鏡) 、AFM (原子間力顕微鏡)用の試料として使われています。メンディングテープなど押し当て引きはがすとMicaのように薄く剥離し、新鮮な表面を出すことができます。両面劈開のため、表裏どちらの面からでも劈開できます。
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