デジタル膜厚計 ：「校正証明書」の検索結果
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膜厚計L-500とプローブのセット品
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)
適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376
測定方式電磁誘導式または渦電流式
プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)
表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)
測定精度電磁式(EP-100)の場合：15μm未満：±0.3μm、15μm以上1、000μm：±2%、 1、000μm以上：±3%/渦電流式(HP-100)の場合：50μm未満：±1.0μm、50μm以上：±2%
分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1
外部出力USBシリアル
測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合：0～2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合：0～1、200または47.0mils
統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
校正証明書付き
プリンタ内蔵の膜厚計最上位モデル 。ブロック/グループ統計計算機能
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)
適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376
測定方式電磁誘導式または渦電流式
プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)
表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)
測定精度電磁式(EP-100)の場合：15μm未満：±0.3μm、15μm以上1、000μm：±2%、 1、000μm以上：±3%/渦電流式(HP-100)の場合：50μm未満：±1.0μm、50μm以上：±2%
分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1
外部出力USBシリアル
測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合：0～2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合：0～1、200または47.0mils
統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
1台
￥319,800
税込￥351,780
6日以内出荷
膜厚計L-500とプローブのセット品
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)
適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376
測定方式電磁誘導式または渦電流式
プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)
表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)
測定精度電磁式(EP-100)の場合：15μm未満：±0.3μm、15μm以上1、000μm：±2%、 1、000μm以上：±3%/渦電流式(HP-100)の場合：50μm未満：±1.0μm、50μm以上：±2%
分解能(μm)100未満：0.1、100以上：1
外部出力USBシリアル
測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合：0～2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合：0～1、200または47.0mils
統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
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